不分光紅外線CO一氧化碳分析儀 批發(fā)

一,、智能紅外一氧化碳氣體分析簡要介紹：

是我廠新推出的一種利用紅外光譜吸收原理，對低濃度的一氧化碳測量儀器,，紅外一氧化碳檢測儀,，同時可以檢測一氧化碳濃度、溫度和濕度,。具有非常清晰的彩色觸摸屏,，聲光報警提示，帶內(nèi)置泵,，紅外一氧化碳氣體分析儀廣泛用于公共場所,、衛(wèi)生監(jiān)督、環(huán)境監(jiān)測,、等氣體的檢測與監(jiān)測,。成功解決了,，在高溫和低溫測量中的精度保證和補償、精度非常的高,，可用于科研等監(jiān)測部門,。本儀器符合GB/T18204.23-2000《公共場所空氣中一氧化碳檢驗方法》和GB/T9801-88《空氣質(zhì)量一氧化碳的測定非分散紅外法》的國家標準；符合JJG635-2011《一氧化碳,、二氧化碳紅外線氣體分析器》的國家計量檢定規(guī)程,。

二、執(zhí)行標準

JJG635-2011《一氧化碳,、二氧化碳紅外氣體分析器》

HJ965-2018《環(huán)境空氣 一氧化碳的自動測定 非分散紅外法》

GB/T18204.2-2014《公共場所衛(wèi)生檢驗方法第2部分：化學(xué)污染物》

GBZ/T 300.37-2017《工作場所空氣有毒物質(zhì)測定 第37部分：一氧化碳和二氧化碳》

GB 9801-1988 《空氣質(zhì)量一氧化碳的測定非分散紅外法》

三,、紅外一氧化碳氣體分析儀特點：

1、檢測空氣中的一氧化碳氣體,，同時可以檢測該環(huán)境的溫度和濕度,。

2、自帶吸氣泵可將數(shù)十米距離外氣體吸入儀器進行測定,。

3,、具有超大彩色觸摸屏、操作方便快捷,。

4,、儀器顯示有PPM和mg/M³兩種顯示數(shù)據(jù)，可以自動轉(zhuǎn)換,。

5,、自動零點校正技術(shù),，方便用戶在不同季節(jié)和時間，進行零點修正、

6,、具有小時均值,，8小時均值,，日均值顯示,，存儲功能。

四,、智能一氧化碳氣體分析儀技術(shù)參數(shù)：   

· 檢測原理：不分光紅外線氣體分析法/非分散紅外法（國標）

· 檢測氣體：空氣中的一氧化碳（CO）

· 檢測方式：泵吸式                  

· 測量范圍：一氧化碳：0.0-50ppm 或者200,、1000ppm量程

溫度：-20∽60℃。濕度：10-95%RH

· 濃度顯示ppm,、mg/m3自動轉(zhuǎn)換

· 分 辨 率：0.1×10-6

· 超大彩色觸摸屏操作,，海量數(shù)據(jù)存儲，可存儲10000組測量數(shù)據(jù);

· 零點自動校正技術(shù),，有數(shù)據(jù)接口,。

· 線性誤差：≤±2% F·S，重 復(fù) 性：≤1.0%

· 量程漂移：≤±2% F·S/3h

· 響應(yīng)時間：≤60S,、預(yù)熱時間：30min

· 流量范圍：（0.5-2.0）L/min

· 供電電源：交直流兩用,，220AVC（±10%）或機內(nèi)充電電池

計量檢定校準測試過關(guān),，可以取得檢定證書！

五,、智能紅外一氧化碳氣體分析儀配置:

(1)儀器主機(含內(nèi)置電池)    一臺      (2)充電器             一只

(3)采樣軟管                一根      (4)鋁合金攜帶箱       一只      

（5）操作手冊             一份     （6）合格證            一份

（7）U盤軟件             一份       （7）數(shù)據(jù)線           一個

紅外不分光一氧化碳分析儀主要技術(shù)指標符合國家二級儀表的技術(shù)要求,，可以取得中國計量科學(xué)研究院的二級檢定證書。
 

 儀器內(nèi)置式調(diào)零過濾器,、六通閥切換調(diào)零與測量,，操作簡便靈活?？梢远ㄖ茰y量范圍,。具有小時均值，8小時均值,，日均值顯示，存儲功能,。

該儀器屬于不分光式紅外線分析儀,。其工作原理是基于某些氣體對紅外線的選擇性吸收，儀器采用了良好的單光源,，單管隔半氣室以及高穩(wěn)定性,，高可靠性的微音薄膜檢測器和新型熱電檢測器。它采用良好的數(shù)字處理技術(shù),，全新的液晶顯示畫面,。

是利用紅外線進**體分析。它基于待分析組分的濃度不同,，吸收的輻射能不同.剩下的輻射能使得檢測器里的溫度升高不同,，動片薄膜兩邊所受的壓力不同，從而產(chǎn)生一個電容檢測器的電信號,。這樣,，就可間接測量出待分析組分的濃度。

1.比爾定律

紅外線氣體分析儀是根據(jù)比爾定律制成的,。假定被測氣體為一個無限薄的平面.強度為k的紅外線垂直穿透它,，則能量衰減的量為:I=I0e-KCL(比爾定律)

式中:I--被介質(zhì)吸收的輻射強度;

I0--紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度;

K--待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù);

C--待分析組分的氣體濃度;

L--氣室長度(赦測氣體層的厚度)

對于一臺制造好了的紅外線氣體分析儀，其測量組分已定,，即待分析組分對輻射波段的吸收系數(shù)k一定;紅外光源已定,，即紅外線通過介質(zhì)前的輻射強度I0一定;氣室長度L一定。從比爾定律可以看出:通過測量輻射能量的衰減I,，就可確定待分析組分的濃度C了,。