目錄:探真納米科技(衢州)有限公司>>原子力顯微鏡探針>> TZ UltraSharp-T270大高寬比AFM探針
探真納米科技自主研制的TZ UltraSharp系列大高寬比AFM探針,,具有優(yōu)良的性能和創(chuàng)新的技術優(yōu)勢,,該系列產(chǎn)品不僅在分辨率,、使用壽命等關鍵指標上優(yōu)于進口同類產(chǎn)品,更以高性價比優(yōu)勢,,成為AFM探針國產(chǎn)替代的優(yōu)選,。
TZ UltraSharp系列大高寬比AFM探針產(chǎn)品特點:
1. 整體圓錐形針尖,擁有大高寬比,,適用于各種領域采用輕敲模式的更多測試場景形貌檢測應用,。如: 深溝槽、陡直臺階等,。
2. 探針針尖半錐角小,,只有~5°。針尖尖更細長尖銳,,相比棱錐型探針,,同樣的磨損后依然很尖,,使用壽命更長。
3. 具有噪音低,,可以掃描單原子層二維材料和亞納米的原子級臺階,。
4. 針托兩側(cè)側(cè)壁陡直,更容易夾??;而普通探針針托側(cè)壁是斜坡結(jié)構,夾取時容易掉落,。
5. 連接懸臂梁的針托末端是臺階結(jié)構設計,,可以有更廣的激光入射角,對光路更加友好,。
產(chǎn)品型號 | 探針材料 | 共振頻率 | 彈性系數(shù) | 背面鍍層 | 正面鍍層 | 半錐角度 | 尖半徑 | 針尖高度 | 懸臂梁長度 | 懸臂梁寬度 |
TZ UltraSharp-T270 | Si | 130kHz | 5N/m | Al/Au | 無 | 6° | 6nm | 8μm | 140μm | 40μm |
240kHz | 25N/m | 140μm | ||||||||
330kHz | 50N/m | 130μm |