德國尼克斯 QNix4500涂層測厚儀是*新設計的探頭與主機一體化式的涂層測厚儀,德國尼克斯 QNix4500涂層測厚儀用于測量鐵磁性基體(即鋼,、鐵等)上的涂層，如油漆,、各種防腐層,、粉末噴涂等,。尼克斯QuaNix4500金屬涂鍍層測厚儀帶Fe/NFe兩用探頭，

德國尼克斯QNix一體式涂層測厚儀4500 主要特點
QNix 4500只需調零,、無需校準
Fe,、NFE探頭
一本化設計
自動開關機
 QuaNix 4500單探頭量程達3000μm
直角設計方便測量溝漕

德國尼克斯QNix一體式涂層測厚儀4500具體參數(shù)：

德國尼克斯 QNix4500涂層測厚儀使用說明書

QuaNix4200/4500是利用霍爾原理而設計的探頭與主機一體化式金屬涂層測厚儀。QuaNix4200用于測量鐵磁性基體（如鋼,、鐵）上的涂層,，如油漆、各種防腐層,、粉噴涂等,。QuaNix4500帶Fe/NFe兩用探頭，既可用于測量磁性基體,，又可測量非磁性基體如銅,、鋁、合金等上的涂層,。

QuaNix4200/4500涂層測厚儀使用說明書測量
將儀器探頭垂直接觸被測物的表面,，儀器將自動開機并測得數(shù)據(jù)。注意：測量時務必要使探頭垂直接觸被測物表面,。

QuaNix4200/4500涂層測厚儀使用說明書調零
儀器在測量前,，為減少測量誤差，應在基體上取零位作基準,?？梢杂脹]有涂層的工件表面也可以用隨儀器帶基體。用儀器測量基體,，如顯示0,，表明已是零位，不用再調零。如不顯示0,，則需要調零,。將儀器探頭壓在調零板或未噴涂的工件表面上，不要抬起,，按一下儀器上的紅鍵松開,，聽到響聲液晶顯示一組數(shù)后，拿開儀器,，再次聽到響聲后,，液晶顯示0，調零完畢,。注意：由于工件表面粗糙度的原因,，調零后，再測時不一定是優(yōu)良的零位,，這是正?，F(xiàn)象。

QuaNix4200/4500涂層測厚儀使用說明書Fe/NFe探頭轉換
QuaNix4500為兩用探頭,，當測量不同的基體時,，需要對磁性模式（Fe）與非磁性模式（NFe）進行轉換。在開機狀態(tài)下,，按紅鍵進入菜單選項,，繼續(xù)按紅鍵選擇Fe或者Nfe選項短暫停留后，就已選擇相應的測量模式,，也可以選擇FeNfe選項,，短暫停留后就進入自動識別基體模式（推薦使用）！
菜單中Averaging為平均值選項,，在Averaging選項短暫停留后出現(xiàn)ON（開啟）和OFF（關閉）兩個選項，在ON（開啟）選項下短暫停留后進入平均值測量模式,，測量時所顯示讀數(shù)為*后三次讀數(shù)的平均值,，在OFF（關閉）選項下短暫停留后退出平均值測量模式。

顯示
Fe：測量鐵磁性基體模式
NFe：測量非磁性基體模式
Err：操作失誤
INFI：探頭模式與被測基體不符
BAT：電量不足,，需換電池

QuaNix4200/4500涂層測厚儀使用說明書維護和維修
QuaNix4200/4500測厚儀采用*先進的電子技術,能
滿足各種不同的測量要求,。高精度的設備,堅固的結構和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應用。只要正確使用和維護,它的壽命會很長,。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與潮氣,具有化學腐蝕性的物質或氣 體接觸,。使用完畢,儀器應被放回具有保護性和便于挪動的盒子中。溫度的劇烈變化將影響測量結果,所以不要直接把儀器暴露在強烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中,。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性,但不能保證極少數(shù)化學物質的腐蝕,這時處理的方法僅僅是用一塊潮濕,柔軟的布擦洗儀器,。只有探針保持清潔,才能獲得準確的數(shù)據(jù),所以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等。儀器長期不被使用時, 為避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時,請不要自行修理,我們的維修部門隨時竭誠為您服務,。

QuaNix4200/4500涂層測厚儀使用說明書技術參數(shù)
磁性基體 Fe探頭（4200/4500）
非磁性基體 NFe探頭（4500）
測量范圍 Fe:0-3000um/NFe:0-3000um
精度 0-50um:≤+/-1um,，50-1000um:≤+/-1.5%讀數(shù)，1000-3000um≤+/-3%
*小接觸面 10×10mm
*小曲率半徑 凸面：3mm
凹面：25mm
*小機體厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補償范圍 -10℃-60℃
測量范圍 0℃-50℃
顯示 LCD液晶
探頭 紅寶石固定式
電源 2×1.5V干電池
尺寸 100×60×27mm
重量 105g

QuaNix4200/4500涂層測厚儀使用說明書注意事項
測量應為點接觸,，嚴禁將探頭置于被測物表面滑動,。
每次測量間隔時間應大于幾秒鐘，且儀器應離開被測物10cm以上,，再進行下一次測量,。