采集只需一秒鐘,。利用 S wide 的條紋投影技術(shù)和一系列不同的采集模式，可以優(yōu)化測(cè)量以實(shí)現(xiàn)超高的量測(cè)效率,。

生產(chǎn)質(zhì)量保證

易于使用

使用 S wide 進(jìn)行測(cè)量非常簡(jiǎn)單：加載樣品,、設(shè)置方法以及檢查結(jié)果。

高分辨率 3D 成像

捕捉每個(gè)細(xì)節(jié)

這款 3D 掃描儀配備 500 萬(wàn)像素彩色攝像頭,，加上數(shù)字變焦功能,，可捕捉樣品的各種細(xì)節(jié)。

工業(yè)測(cè)量解決方案

大型設(shè)置?

借助 300 x 300 毫米的平臺(tái)配置,，可測(cè)量大量樣品陣列和大面積區(qū)域,。

精密光學(xué)測(cè)量

亞微米級(jí)重復(fù)性

S wide 采用專有的條紋投影算法，可實(shí)現(xiàn)微米級(jí)精度,，在大面積的測(cè)量表面上提供優(yōu)秀的亞微米高度重復(fù)性,。

高級(jí)軟件工具

高效的數(shù)據(jù)提取

S wide 配備了一套分析工具，可以從測(cè)量數(shù)據(jù)中提取每條信息：粗糙度和平整度參數(shù),、關(guān)鍵尺寸,、GD&T 和 CAD 比較。