日韩av大片在线观看欧美成人不卡|午夜先锋看片|中国女人18毛片水多|免费xx高潮喷水|国产大片美女av|丰满老熟妇好大bbbbbbbbbbb|人妻上司四区|japanese人妻少妇乱中文|少妇做爰喷水高潮受不了|美女人妻被颜射的视频,亚洲国产精品久久艾草一,俄罗斯6一一11萝裸体自慰,午夜三级理论在线观看无码

測量系統(tǒng)規(guī)格

基本功能：獲取薄膜厚度值以及R、N/K等光譜

光譜分析范圍：380nm-1000nm

測量光斑大?。簶藴?.5mm,，最小0.5mm

膜厚重復性測量精度：0.02nm（100nm 硅基SiO2樣件，100次重復測量）

膜厚精度：0.2%或2nm之間較大者

膜厚測量范圍：15nm-70μm

測量n和k值厚度要求：100nm以上

單點測量時間：≤ 1s

光源：標準鹵燈光源（光源壽命2000小時）

分析軟件：多達數(shù)百種的光學材料常數(shù)數(shù)據(jù)庫,，并支持用戶自定義光學材料庫,；提供多層各向同性光學薄膜建模仿真與分析功能

樣品臺規(guī)格：

基板尺寸：支持樣件尺寸到150*150mm(可升級定制不同尺寸樣品臺)

測控與分析軟件

光譜測量能力：反射率光譜測量

數(shù)據(jù)分析能力：膜厚分析能力，光學常數(shù)（折射率和消光系數(shù)）

支持常用光學常數(shù)模型以及常用振子模型（柯西模型,、洛倫茲模型,、高斯模型等）；

支持用戶自定義,，可離線分析軟件模擬實際測量,，支持Windows 10操作系統(tǒng)