目錄:北京卓立漢光儀器有限公司>>光譜儀器>>光譜系統(tǒng)關聯(lián)產(chǎn)品>> SPM600系列半導體參數(shù)分析儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 綜合 |
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SPM600系列半導體參數(shù)分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統(tǒng),。其功能全面，提供多種重要參數(shù)測試,。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,，光電流掃描以及光響應速率測試。40μm 探測光斑,，實現(xiàn)百微米級探測器的絕對光譜響應度測量,。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試，豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源,，例如超連續(xù)白光激光器,，皮秒脈沖激光器，半導體激光器,，鹵素燈,，氙燈等，滿足不同探測器測試功能的要求。是半導體微納器件研究的優(yōu)選,。
SPM600系列半導體參數(shù)分析儀功能：
■ 光譜響應度光源選項
卓立漢光根據(jù)樣品光譜相應范圍選擇適合的光源,，如EQ 光源,，氙燈光源，氙燈溴鎢燈復合光源,。
EQ光源
特點：
■ 光譜范圍寬：190-1700nm寬光譜范圍,；特點：
■ 光譜范圍寬：250-1700nm寬光譜范圍,；特點：
■ 光譜范圍：250-2500nm
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