基于高光譜成像技術的蘋果損傷研究
——四川雙利合譜科技有限公司
隨著人們生活水平的提高,,消費者越來越關注果蔬的品質(zhì)安全問題。如水果的損傷不僅會造成果蔬的腐爛,,而且會嚴重影響消費者的身體健康,。因此水果損傷快速有效檢測是非常有實際價值的。雖然水果的損傷和正常區(qū)域在外部特征上呈現(xiàn)出大的相似性,,但是損傷區(qū)部位發(fā)生一定的變化,,這種變化可以通過特定波長下的光譜表現(xiàn)出來。
高光譜圖像技術結(jié)合了光譜分析和圖像處理的技術優(yōu)勢,,對研究對象的內(nèi)外部品質(zhì)特征進行檢測分析,,趙杰文等利用高光譜圖像技術檢測水果輕微損傷,準確率為88.57 %,;Jasper G .Tallada等分別應用高光譜圖像技術對不同成熟度的草莓表面損傷,、蘋果的表面缺陷及芒果的成熟度檢測進行了試驗研究。王玉田等運用熒光光譜檢測出水果表面殘留的農(nóng)藥,;胡淑芬等運用激光技術對水果表面農(nóng)藥殘留進行了試驗研究,;薛龍等針對水果表面農(nóng)藥殘留,以滴有較高濃度的臍橙為研究對象,,利用光譜范圍425-725 nm的高光譜圖像系統(tǒng)進行檢測,,發(fā)現(xiàn)對較高濃度的農(nóng)藥殘留檢測效果較好,。本文采用高光譜圖像技術檢測水果的損傷區(qū)域,,以實現(xiàn)損傷區(qū)域共同識別的目的。
二,、 試驗材料與方法
2.1 實驗材料
本研究以蘋果為研究對象,,分析蘋果的腐爛區(qū)域。其中蘋果的腐爛區(qū)域是天然形成,。
2.2 實驗設備
高光譜成像數(shù)據(jù)采集采用四川雙利合譜科技有限公司的 GaiaSorter高光譜分選儀系統(tǒng),。該系統(tǒng)主要由高光譜成像儀(V10E)、CCD 相機,、光源,、暗箱、計算機組成,,結(jié)構(gòu)圖與實景圖如圖1,。實驗儀器參數(shù)設置如表1。
表1 GaiaSorter 高光譜分選儀系統(tǒng)參數(shù)
序號 | 項目 | 參數(shù) |
1 | 光譜掃描范圍/nm | 350~1000 |
2 | 光譜分辨率/nm | 2.8 |
3 | 采集間隔/nm | 1.9 |
4 | 光譜通道數(shù) | 520 |
圖 1 GaiaSorter 高光譜分選儀結(jié)構(gòu)圖與實景圖
2.3 圖像處理分析
采用SpecView和ENVI/IDL對高光譜數(shù)據(jù)的預處理及分析,,預處理中的鏡像變換,、黑白幀校準在SpecView中進行,;其他數(shù)據(jù)的分析在ENVI/IDL中進行。
三,、結(jié)果與討論
3.1 蘋果腐爛區(qū)域和正常區(qū)域的光譜分析
取蘋果腐爛區(qū)域與正常區(qū)域各200個像元,,分別獲取這200個像元的光譜反射率,并求取這200個像元的反射率均值,,如圖2所示,,其中,紅色代表蘋果的腐爛區(qū)域光譜區(qū)域的光譜反射率,,藍色代表正常區(qū)域的光譜反射率,,綠色代表農(nóng)藥殘留區(qū)域的光譜反射率。從圖中可知,,在400-100 nm范圍內(nèi),,農(nóng)藥殘留區(qū)域的光譜反射率zui大,其次是正常區(qū)域,,zui后是腐爛區(qū)域的光譜反射率,。研究發(fā)現(xiàn)這三個區(qū)域在610 nm處有一峰值,在650 nm處有一吸收谷,,在650-680 nm區(qū)間有一陡坡,,由于三個區(qū)域均有以上特征,所以可以認為這也是蘋果*的特征位置,。
圖2 蘋果腐爛區(qū)域,、農(nóng)藥殘留區(qū)域與正常區(qū)域的光譜反射率
3.2蘋果腐爛區(qū)域提取
對經(jīng)過鏡像變換、黑白幀校準的高光譜圖像,,根據(jù)蘋果與背景區(qū)域的光譜差異,,利用ENVI/IDL軟件的波段運算建立腌膜,獲取純蘋果圖像,,對蘋果圖像做主成分分析,,根據(jù)獲取的主成分圖像,選取能較好區(qū)分腐爛區(qū)域和正常區(qū)域的主成分圖像(PC2),,通過閾值分割的方法分別獲取蘋果腐爛區(qū)域,,如圖所示。大的部分為腐爛區(qū)域,,小的為農(nóng)藥殘留區(qū)域,。
圖 4 蘋果腐爛區(qū)域與農(nóng)業(yè)殘留區(qū)域提取流程圖
3.5 討論
高光譜成像技術應用于水果表面損傷已體現(xiàn)出其“圖譜合一”的*性。水果輕微損傷往往發(fā)生在表皮之下,,和正常區(qū)域的顏色相差不大,,肉眼難以識別。隨著時間的推移,,損傷區(qū)域會逐漸褐變,,zui后導致整個水果腐爛,,甚至影響其他果實。本研究結(jié)果表明,,運用高光譜成像技術,,運用主成分分析、腌膜等方法等,,可以有效地提取水果損傷,,從而達到快速檢測的目的。
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