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日本Otsuka大塚MINUK光波動場三次元顯微鏡
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：43更新時間：2025-02-21 10:18:33
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- www.fujita-cn.com
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷,，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進行測量,。且無需對焦,，可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置。
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚MINUK光波動場三次元顯微鏡-成都藤田科技提供
Smart膜厚儀 vs OPTM顯微分光膜厚儀——革新光學(xué)測量的雙引擎
核心對比與OPTM優(yōu)勢：
技術(shù)差異化：
OPTM系列：基于分光干涉法,，結(jié)合顯微光學(xué)系統(tǒng),，實現(xiàn)反射率分析，支持超薄膜（1nm）與復(fù)雜多層結(jié)構(gòu),，技術(shù)解決透明基板干擾,。
Smart膜厚儀：側(cè)重便攜性與快速篩查，適用于常規(guī)單層膜厚測量,，但精度與功能擴展性不及OPTM系列,。
應(yīng)用場景：
OPTM適用于研發(fā)（R&D）與高精度QC，如半導(dǎo)體晶圓,、光學(xué)濾光片,；Smart膜厚儀更適合產(chǎn)線快速抽檢。
性價比優(yōu)勢：OPTM以中型設(shè)備成本提供媲美橢偏儀的精度,，且操作門檻更低,，軟件內(nèi)置NIST校準追溯，確保數(shù)據(jù)可靠性,。
產(chǎn)品信息
特點
可評價nｍ級的透明的異物?缺陷 一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息 無需對焦,，可高速測量 可非破壞?非接觸?非侵入的測量 可在任意的面進行高速掃描,輕松決定測量位置
規(guī)格
| 分辨率 x , y | 6 9 1n m（ 一次拍照）、4 8 8 n m（ 合成） |
| 視野 x , y | 7 0 0×7 0 0μm |
| 分辨率 z | 10nm（相位差） |
| 視野 z | ±700μm |
| 樣品尺寸 | 10 0×8 0×t 2 0 mm（安裝通用樣品架時） |
| 樣品臺 | 微動X Y樣品臺（自動） X:±10 mm Y：±10 mm 粗動樣品臺 X：12 9 mm Y：8 5 mm |
| 激光 | 波長 6 3 8 nm 輸出 0 .3 9 mW 以下 C la s s1 ( 對測量樣品的照射強度) |
| 尺寸（長×寬×高）mm | 本體：5 0 5（W）×6 3 0（D）×4 3 9（H） ± 2 0 m m ※不含P C,、附屬品 |
| 重量 | 41k g |
| 功耗 | 本體：2 9 0 VA ※不含P C,、附屬品 |
測量案例
將肉眼無法看見的透明薄膜表面可視化?定量化
可以非接觸、非破壞性,、非侵入性地獲得nm級的形狀信息,。通過一次拍照即可獲取深度方向的信息，可以將透明薄膜表面上肉眼不可見的劃痕和缺陷的橫截面形狀數(shù)值化實現(xiàn)可視化。
觀察透明薄膜內(nèi)部的填充劑
肉眼無法看到的透明薄膜內(nèi)部的填充劑,，通過一次拍照即可觀察到,。此外，通過在測量后改變深度方向的焦點,，可以識別到各個深度的填充劑,。
日本Otsuka大塚MINUK光波動場三次元顯微鏡-成都藤田科技提供
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