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　　原位樣品桿是一種用于電子顯微鏡（如透射電子顯微鏡 TEM 或掃描電子顯微鏡 SEM）的特殊樣品桿,，能夠在觀察樣品的同時，對樣品施加外部刺激（如加熱,、冷卻,、拉伸、壓縮,、電場,、磁場、氣體或液體環(huán)境等）,，以實時研究材料在不同條件下的動態(tài)行為和結構變化,。這種技術為材料科學、納米技術,、催化,、能源等領域的研究提供了強大的工具。

 

　　技術優(yōu)勢
 

　　◆ 適配性：適配ThermoFisher/JEOL/Hitachi等品牌各類型電鏡
 

　　◆ 雙軸傾轉：α/β雙軸傾轉
 

　　◆ 優(yōu)異冷凍功能：溫度<-170℃
 

　　主要應用
 

　　◆ 低溫原位相變
 

　　◆ 凝聚態(tài)物理
 

　　◆ 超導
 

　　◆ 電子束敏感材料
 

　　◆ 磁性材料
 

樣品桿Tip雙傾實機圖

冷凍樣品桿實物圖
 

配套分子泵抽氣站