德國(guó)X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240
X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀,采用自動(dòng)方
式,,測(cè)量和分析印刷電路板,、防護(hù)及裝飾性鍍層
及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
德國(guó)X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀
簡(jiǎn)介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及
材料分析儀,。它非常適用于無損測(cè)量鍍層厚度,、材料分析和溶液分析,同時(shí)還能全自
動(dòng)檢測(cè)大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層,。
XDL 240 特別適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制,、進(jìn)料檢驗(yàn)和生產(chǎn)流程監(jiān)控,。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
• 測(cè)量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
• 測(cè)量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
• 測(cè)量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層
• 全自動(dòng)測(cè)量,,如測(cè)量印刷線路板
• 分析電鍍?nèi)芤?/span>
XDL 240 有著良好的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,,這樣就不需要經(jīng)常校準(zhǔn)儀器。
比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率,,這樣就可以進(jìn)行高精度測(cè)量,。
由于采用了 FISCHER *基本參數(shù)法,因此無論是對(duì)鍍層系統(tǒng)還是對(duì)固體和液體樣
品,,儀器都能在沒有標(biāo)準(zhǔn)片的情況下進(jìn)行測(cè)量和分析,。
設(shè)計(jì)理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X-
Y 工作臺(tái),,當(dāng)測(cè)量門打開時(shí),,工作臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置;馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系
統(tǒng),,可編程運(yùn)行,。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強(qiáng)大的放大功能,可以精確定位測(cè)量位置,。通過視頻
窗口,,還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過程和進(jìn)度。配備了激光點(diǎn),,可以輔助定位并快速對(duì)準(zhǔn)測(cè)
量位置,。
測(cè)量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì),由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)
量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品,。例如:大型的印制電路板,。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡(jiǎn)化了樣品擺放,并且允許測(cè)量點(diǎn)的精確調(diào)
整,。
所有的儀器操作,,以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示,都可以通過功能
強(qiáng)大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成,。
XDL 型鍍層測(cè)厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器,,型式許可*符合
德國(guó)“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定。
德國(guó)X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀
通用 規(guī)格
設(shè)計(jì)用途 能量色散型 X 射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀 (EDXRF),, 用于測(cè)定超薄鍍層和溶液
分析,。
元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92)
配有可選的 WinFTM® BASIC 軟件時(shí),zui多可同時(shí)測(cè)定 24 種元素
設(shè)計(jì)理念 臺(tái)式儀器,,測(cè)量門向上開啟
測(cè)量方向 由上往下
X 射線源
X 射線管 帶鈹窗口的鎢管
高壓 三檔: 30 kV,,40 kV,50 kV
孔徑(準(zhǔn)直器) Ø 0.3 mm 可選:Ø 0.1 mm,; Ø 0.2 mm,;長(zhǎng)方形 0.3 mm x 0.05 mm
測(cè)量點(diǎn)尺寸 取決于測(cè)量距離及使用的準(zhǔn)直器大小,,
實(shí)際的測(cè)量點(diǎn)大小與視頻窗口中顯示的*
zui小的測(cè)量點(diǎn)大小約 Ø 0.2mm
X 射線探測(cè)
X 射線接收器
測(cè)量距離
比例接收器
0 ~ 80 mm,使用保護(hù)的 DCM 測(cè)量距離補(bǔ)償法
樣品定位
視頻系統(tǒng)
高分辨率CCD彩色攝像頭,,沿著初級(jí)X射線光束方向觀察測(cè)量位置
手動(dòng)聚焦,,對(duì)被測(cè)位置進(jìn)行監(jiān)控
十字線(帶有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度和測(cè)量點(diǎn)尺寸)
可調(diào)節(jié)亮度的LED照明,激光光點(diǎn)用于精確定位樣品
放大倍數(shù) 40x – 160x
電氣參數(shù)
電源要求 220 V ,,50 Hz
功率 zui大 120 W (不包括計(jì)算機(jī))
保護(hù)等級(jí) IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸 寬×深×高[mm]:570×760×650
內(nèi)部測(cè)量室尺寸 寬×深×高[mm]:460×495x(參考“樣品zui大高度”部分的說明)
重量 120 kg
環(huán)境要求
使用時(shí)溫度 10°C – 40°C
存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度 0°C – 50°C
空氣相對(duì)濕度 ≤ 95 %,,無結(jié)露
工作臺(tái)
設(shè)計(jì) 馬達(dá)驅(qū)動(dòng),可編程 X/Y 平臺(tái)
255 x 235 mm
≤ 80 mm/s
≤ 0.01 mm 單向
300 x 350 mm
馬達(dá)驅(qū)動(dòng),,可編程運(yùn)行
140 mm
5 kg,,降低精度可達(dá) 20kg
140 mm
有
X/Y 平臺(tái)zui大移動(dòng)范圍
X/Y 平臺(tái)移動(dòng)速度
X/Y 平臺(tái)移動(dòng)重復(fù)精度
可用樣品放置區(qū)域
Z 軸
Z 軸移動(dòng)范圍
樣品zui大重量
樣品zui大高度
激光(1 級(jí))定位點(diǎn)
計(jì)算單元
計(jì)算機(jī) 帶擴(kuò)展卡的 Windows ® 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)
軟件 標(biāo)準(zhǔn): WinFTM ® V.6 LIGHT
可選: WinFTM ® V.6 BASIC,PDM,,SUPER
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
CE 合格標(biāo)準(zhǔn) EN 61010
型式許可 作為受*保護(hù)的儀器
型式許可*符合德國(guó)“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規(guī)的規(guī)定。
德國(guó)X射線熒光鍍層測(cè)厚及材料分析儀
訂貨號(hào)
FISCHERSCOPE X-RAY XDL240 604-498
如有特殊要求,,可與 FISCHER 磋商,,定制特殊的 XDL 型號(hào)。
FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen – Germany 的注冊(cè)商標(biāo),。
Windows ® 是 Microsoft Corporation 在美國(guó)及其他地區(qū)的注冊(cè)商標(biāo),。