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單點(diǎn)開爾文探針
單點(diǎn)開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢,,表面功函,。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定,,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng),。
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