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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> MKW-200-直寫(xiě)光刻機(jī)/無(wú)掩膜光刻機(jī)
上海麥科威MKW-200是一個(gè)高價(jià)值的激光直寫(xiě)光刻機(jī),,面向大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)尋求擴(kuò)大他們的能力。
它用亞微米像素分辨率的405nm激光在光敏抗蝕劑涂層表面大面積書(shū)寫(xiě),。你可以寫(xiě)任何東西,,從光掩模到基礎(chǔ)科學(xué)或應(yīng)用科學(xué)的研究原型,集成相機(jī)可以用來(lái)調(diào)整現(xiàn)有的功能寫(xiě),。
我們對(duì)其進(jìn)行了優(yōu)化,,以便于使用和簡(jiǎn)單維護(hù),利用現(xiàn)成的部件,,而不犧牲書(shū)寫(xiě)質(zhì)量或功能,。
直接激光書(shū)寫(xiě)光刻
直接激光光刻技術(shù)通過(guò)消除光掩模生產(chǎn)對(duì)外部供應(yīng)商的依賴(lài),大大降低了微流體,、微電子,、微機(jī)械和材料科學(xué)研究等領(lǐng)域的成本和執(zhí)行時(shí)間,。
UV-Writer隨其控制軟件在PC上提供。它允許您從GDSII文件的單元格或直接從PNG圖像導(dǎo)入要寫(xiě)入的設(shè)計(jì),。
一切都是通過(guò)一個(gè)用戶友好的圖形界面來(lái)完成的,,它允許您在執(zhí)行之前預(yù)覽要編寫(xiě)的設(shè)計(jì)。
除了對(duì)每個(gè)設(shè)計(jì)應(yīng)用旋轉(zhuǎn),、反射,、反轉(zhuǎn)或比例調(diào)整等變換外,還可以在單個(gè)過(guò)程中組合多個(gè)設(shè)計(jì),。
在確定了設(shè)計(jì)方案后,,采用了所包含的工作臺(tái)控制模塊和共焦顯微鏡。
使用它們,,您可以設(shè)置基片上工藝的原點(diǎn)位置和感光表面上的焦平面,。
接下來(lái)執(zhí)行該過(guò)程并將設(shè)計(jì)寫(xiě)在表面上。
技術(shù)指標(biāo):
XY工作臺(tái)
典型寫(xiě)入速度:100-120 mm/s
面積:100x92 mm^2
最小面積:沒(méi)有最小面積
單向定位臺(tái)階:X=0.16µm,,Y=1.00µm
慢速X軸上的機(jī)械噪聲:<1µm
快速Y軸上的機(jī)械噪聲:<1µm
多層對(duì)準(zhǔn)精度:5-10µm(可選旋轉(zhuǎn)臺(tái),,便于對(duì)準(zhǔn))
實(shí)際最小特征尺寸:6-15µm,取決于特征(示例見(jiàn)下圖)
軟件
支持的格式:PNG,、GDSII
在軟件轉(zhuǎn)換:,,旋轉(zhuǎn)、反射,、反轉(zhuǎn),、重縮放、添加邊框
-可以在一個(gè)進(jìn)程中編寫(xiě)來(lái)自不同文件的多個(gè)設(shè)計(jì)
-通過(guò)3點(diǎn)線性或4點(diǎn)雙線性聚焦測(cè)量進(jìn)行傾斜/翹曲基板補(bǔ)償
-全床曲率補(bǔ)償?shù)木W(wǎng)格型標(biāo)定
光學(xué)
-激光波長(zhǎng):405nm(可選375nm)
-激光聚焦,、對(duì)準(zhǔn)和檢測(cè)用共焦顯微鏡
-二次獨(dú)立黃色照明
-激光光斑尺寸可以使用工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡物鏡改變
精度:
-精細(xì):0.8µm
-介質(zhì):2µm
-粗粒:5µm
大面積包含目標(biāo)的有效書(shū)寫(xiě)速度(單向書(shū)寫(xiě)):
-精細(xì):1.7 mm^2/min
-中等:4.25 mm^2/min
-粗糙度:10.6 mm^2/min
在雙向?qū)懭肽J较滤俣燃颖丁?/p>
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