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當(dāng)前位置:上海麥科威半導(dǎo)體技術(shù)有限公司>>光譜儀>>深能級(jí)瞬態(tài)譜儀>> FT1230深能級(jí)瞬態(tài)譜儀/德國(guó)PhysTech/DLTS
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產(chǎn)品型號(hào)FT1230
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地上海市
更新時(shí)間:2025-04-26 15:19:18瀏覽次數(shù):59次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)深能級(jí)瞬態(tài)譜儀/德國(guó)PhysTech/DLTS
高能分辨率深能級(jí)瞬態(tài)譜(DLTS)
PhysTech在1990年推出了一臺(tái)數(shù)字DLTS,,隨著電腦技術(shù)的發(fā)展,使得在短時(shí)間內(nèi)進(jìn)行復(fù)雜計(jì)算成為可能,。在純指數(shù)發(fā)射過(guò)程模型的基礎(chǔ)上,,用各種數(shù)學(xué)模型分析測(cè)量到的瞬態(tài)過(guò)程,如傅里葉轉(zhuǎn)換,、拉普拉斯轉(zhuǎn)換、多指數(shù)瞬態(tài)擬合,、ITS(等溫瞬態(tài)光譜)信號(hào)重疊法、溫度掃描信號(hào)重疊法(重折疊),。與其他系統(tǒng)相比,,HERA-DLTS具有能量分辨率,。
半導(dǎo)體的摻雜濃度,、缺陷能級(jí)位,、界面態(tài)(俘獲界面)是研究半導(dǎo)體性質(zhì)的重要手段。此設(shè)備根據(jù)半導(dǎo)體P-N 結(jié),、金-半接觸結(jié)構(gòu)肖特基結(jié)的瞬態(tài)電容(△C~t)技術(shù)和深能級(jí)瞬態(tài)譜(DLTS)的發(fā)射率窗技術(shù)測(cè)量出的深能級(jí)瞬態(tài)譜,,是一種具有很高檢測(cè)靈敏度的實(shí)驗(yàn)方法,能檢測(cè)半導(dǎo)體中微量雜質(zhì),、缺陷的深能級(jí)及界面態(tài)。通過(guò)對(duì)樣品的溫度掃描,,可以給出表征半導(dǎo)體禁帶范圍內(nèi)的雜質(zhì)、缺陷深能級(jí)及界面態(tài)隨溫度(即能量)分布的DLTS 譜,。
特點(diǎn):
操作模式:
規(guī)格:
Options
Constant Capacitance
Optical Excitation
Fast Pulse Interface
±100 V Option
Multi Sample Interface
C-DLTS
CC-DLTS
I-DLTS
DD-DLTS
Zerbst-DLTS
O-DLTS
FET-Analysis
MOS-Analysis
ITS(等溫瞬態(tài)光譜儀)
缺陷分析
俘獲截面測(cè)量
I/V, I/V(T)理查森標(biāo)繪圖
C/V, C/V(T)
TSC/TSCAP
PITS(光子誘導(dǎo)瞬態(tài)譜)
DLOS(特殊系統(tǒng))
自動(dòng)接觸檢查
常規(guī)測(cè)試和加強(qiáng)軟件
自動(dòng)電容補(bǔ)償
三終端FET電流瞬態(tài)測(cè)量
大電容和濃度范圍
靈活性高,、模塊化硬件
支持各種冷卻倉(cāng)和溫度控制器
傅里葉轉(zhuǎn)換(F-DLTS),,比例窗口和用戶自定義校正功能
DLTFS(深層瞬態(tài)傅里葉光譜儀)評(píng)價(jià)
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