300KV透射電鏡Spectra 300 TEM 參考價(jià)：面議
300KV透射電鏡Spectra 300 TEM高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射槍,，配備超穩(wěn)定單色器和加速電壓，可調(diào)諧能量分辨率范圍為 1eV-0.03eV
200KV透射電鏡Spectra 200 TEM 參考價(jià)：面議
200KV透射電鏡Spectra 200 TEM使用無(wú)邊緣效應(yīng)成像 (FFI) 可在每個(gè)樣品區(qū)采集更多的圖像,，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出,。 聽(tīng)聽(tīng) FFI 如何幫...
Glacios 2 冷凍透射電鏡 參考價(jià)：面議
Glacios 2 冷凍透射電鏡可無(wú)縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個(gè)工作流程中實(shí)現(xiàn)便捷,、無(wú)污染的樣本轉(zhuǎn)移,。
半導(dǎo)體計(jì)量透射電鏡 Metrios AX TEM 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體計(jì)量透射電鏡 Metrios AX TEM全新設(shè)計(jì)，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像,、分析和具備計(jì)量能力的計(jì)量器,。
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 參考價(jià)：面議
120KV透射電鏡Talos L120C TEM 全新設(shè)計(jì)，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像,、分析和具備計(jì)量能力的計(jì)量器,。
200 kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM 參考價(jià)：面議
200 kV場(chǎng)發(fā)射透射電鏡 Talos F200i TEM4k × 4k Ceta CMOS 攝像機(jī)及其大視野使得可以在整個(gè)高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高...
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM 參考價(jià)：面議
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM快速、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級(jí)細(xì)節(jié),，同時(shí)保持高潔凈度,。
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM 參考價(jià)：面議
高稱度冷凍透射電鏡 Talos F200C TEM全新設(shè)計(jì)，提供可重復(fù)的基于 TEM 和 STEM 的成像,、分析和具備計(jì)量能力的計(jì)量器,。
Prisma E sem掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：2000000
新一代Prisma E Prisma E sem掃描電子顯微鏡可搭載Thermo Scientific ColorSEM技術(shù)，該技術(shù)將傳統(tǒng)的SE或者BSE成像技...
賽默飛（原FEI）Apreo場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：3000000
賽默飛（原FEI）Apreo場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡所有功能都能通過(guò)簡(jiǎn)單的樣品處理和熟悉的 xT UI 獲得,，節(jié)省了新用戶和專家級(jí)用戶的時(shí)間,。可自定義的用戶界面提供...
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡 參考價(jià)：4000000
賽默飛（原FEI）Quattro 進(jìn)口掃描電鏡將成像和分析的全面性能與環(huán)境模式（ESEM）相結(jié)合,，使得樣品研究得以在自然狀態(tài)下進(jìn)行,。
賽默飛 原FEI掃描電鏡 參考價(jià)：5000000
賽默飛 原FEI掃描電鏡Verios XHR SEM 是FEI 的 XHR（分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品,。在尖部半導(dǎo)體制造和材料科學(xué)應(yīng)用中，它可在 1 至 ...
賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡 參考價(jià)：1000000
新一體化賽默飛Axia ChemiSEM 鎢燈絲掃描電鏡,，該儀器將微區(qū)成分分析與電鏡成像集成在同一平臺(tái)上,，快速提供所需微觀形貌及實(shí)時(shí)成分信息，幫助學(xué)術(shù)和工業(yè)用戶...
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡 參考價(jià)：7000000
賽默飛（原FEI）Volumescope 2 sem掃描電鏡簡(jiǎn)單易用,，讓使用者能夠精準(zhǔn)的控制實(shí)驗(yàn),，已驗(yàn)證的解決方案適用于各種樣品類型，保證數(shù)據(jù)采集的每一步都達(dá)到...
Axia ChemiSEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Axia ChemiSEM掃描電鏡重新定義掃描電鏡工作流程,，讓使用體驗(yàn)更加愉悅,。
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Verios 5 XHR SEM超高分辨掃描電鏡利用亞納米分辨率和高材料對(duì)比度進(jìn)行納米材料表征和分析。
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Quattro ESEM環(huán)境掃描電鏡環(huán)境掃描電鏡(ESEM),，用于研究包括含水樣品在內(nèi)的各種樣品,。
Prisma E環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Prisma E環(huán)境掃描電鏡這種始終在線的分析能力可極大提高您的工作效率，并獲取最完整的樣品信息,。
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡340mm內(nèi)寬,，12個(gè)端口，最多同時(shí)安裝三個(gè)EDS（兩個(gè)互為180°）,，EDS,、EBSD共面安裝并與樣品臺(tái)的傾轉(zhuǎn)軸...
Volumescope 2 SEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡對(duì)一系列廣泛的樣品類型在每個(gè)采集步驟都有驗(yàn)證過(guò)的解決方案；對(duì)于容易荷電的樣品可使用低真空探測(cè)器進(jìn)行成像,。
賽默飛礦物參數(shù)自動(dòng)定量分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Maps Mineralogy軟件采用Maps軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集,，而Maps軟件為顯微鏡自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)工作流程平臺(tái)，軟件界面直觀,，數(shù)據(jù)采集設(shè)置和運(yùn)行比以往更加容易。
集成能譜場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™ 掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了技術(shù)創(chuàng)新,，簡(jiǎn)化了分析流程,。通過(guò)全面集成用于...
賽默飛Pierce快速轉(zhuǎn)印系統(tǒng)Thermo 參考價(jià)：面議
該系統(tǒng)由快速半干式轉(zhuǎn)印儀（貨號(hào)88217）和轉(zhuǎn)膜緩沖液（貨號(hào)35035）組成(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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