目錄:賽默飛世爾科技(中國)有限公司>>透射電子顯微鏡(TEM)>> 最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 熱場發(fā)射 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工 |
最深入的材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM
選擇高亮度 X-FEG 或超高亮度冷場發(fā)射槍 (X-CFEG),。X-CFEG 將 (S)/TEM 成像及能量分辨率相結(jié)合,。
Thermo Scientific Velox 軟件可實現(xiàn)對多模式數(shù)據(jù)的快速,、輕松的采集和分析,。
快速,、精確的定量 EDS 分析可在 2D 和 3D 中揭示納米級細(xì)節(jié),,同時保持高潔凈度。
為動態(tài)實驗添加特定用途的原位樣品桿,。
所有日常 TEM 調(diào)整,、例如聚焦、共心高度,、電子束移位,、冷凝器光闌、電子束傾斜樞軸點和旋轉(zhuǎn)中心都是自動進(jìn)行的,,確保您始終從最佳成像條件開始工作,。實驗可以能夠再現(xiàn)的方式重復(fù)進(jìn)行,從而使您能夠?qū)W⒂谘芯慷莾x器操作,。
高通量 STEM 成像采用同步多信號檢測,,可為高質(zhì)量圖像提供更高的對比度。
通過創(chuàng)新且直觀的 Velox 軟件用戶界面采集高質(zhì)量的 TEM 或 STEM 圖像,。Velox 軟件中的 EDS 吸收校正功能可實現(xiàn)極準(zhǔn)確的定量,。
超穩(wěn)定的色譜柱、借助 SmartCam 的遠(yuǎn)程操作和恒定功率物鏡,,可進(jìn)行快速模式和高電壓 (HT) 切換,。多用戶環(huán)境的快速輕松切換。
性能數(shù)據(jù)
HRTEM 線分辨率 |
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STEM 分辨率 |
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Super-X EDS 系統(tǒng) |
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電子能量損失光譜 (EELS) 能量分辨率 |
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200 kV 下的槍亮度 |
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