下照式鍍層測厚儀 超聲厚度檢測 雙晶探頭

T300V下照式鍍層測厚儀

T300V是佳譜儀器集多年X熒光光譜儀技術積累與鍍層應用經(jīng)驗,，專門設計研發(fā)的 一 款下照式結構的鍍層測厚 儀，性價比高,、適用性強,。該款采用優(yōu)良的FP算法同時搭配高速數(shù)字多道技術，  應對各大小平面件,、曲面件金屬鍍層及電鍍液檢測時檢出 限低,，性能穩(wěn)定，檢出限可達0.005um,，是一款頗具客戶 好評的C型腔體設計的實用型膜厚儀。

應用領域

優(yōu)良配置,，值得更優(yōu)性能

相比圖2普通接收器,，T300V采用了更為優(yōu)良的高分辨率探測器，能將不同元素的信號準確 解析,，針對單層,、多層或復雜合金鍍層的測量，測量精度更高,，穩(wěn)定性更好,。

儀器參數(shù)

選擇T300V的理由

檢測實例

     電鍍層，油漆層,，陶瓷層,，鋁瓦，銅瓦,，磷化層,，紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量,。具有耐磨硬質金屬探針的彈簧導套式探頭,，不但能在堅硬或粗糙的表面上進行測量，而且能保證測頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣植,。使用一款快速,、連接、可靠的,，簡化超聲厚度檢測流程,。測厚儀可用作精密或腐蝕測厚儀,，滿足苛刻的應用要求。測厚儀具有優(yōu)良的超聲功能,、高達60 Hz更新率的快速掃描速度以及集成的無線連接功能,，能夠在無縫工作流程中提供值得信賴的結果。連接：集成藍牙,、USB,、RS-232和可移動microSD卡*快速：以快2倍的顯示更新率掃描最小厚度區(qū)域**用途廣泛：使用我們的全系列雙晶和單晶探頭，可應對多種厚度應用鍍層膜厚儀,，簡稱為,，鍍層厚度檢測儀，是用來專業(yè)測量,，金鎳,，銅厚，等,，鍍層的厚度的標準儀器,。簡介 鍍層膜厚儀，簡稱為,，鍍層厚度檢測儀,，是用來專業(yè)測量，金鎳,，銅厚,，等，鍍層的厚度的標準儀器,。檢測鍍層厚度也有一定要求,，鍍層厚度要求分散能力是具有比

T300V下照式鍍層測厚儀

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