低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué),、磁學(xué),、微波、THz,、光學(xué)等多種測(cè)量,，可以根據(jù)客戶(hù)需要，選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置,?？蛻?hù)可以選擇自己搭配測(cè)試儀表集成各類(lèi)測(cè)試，也可以選擇我們的整體測(cè)試解決方案,，如電輸運(yùn)測(cè)試,、半導(dǎo)體分析測(cè)試、霍爾效應(yīng)測(cè)試,、鐵電分析測(cè)試,，集成光學(xué)測(cè)試等。

┃ 設(shè)備特點(diǎn)

• ±2.5T磁場(chǎng),，可定制5T磁場(chǎng)

• 低溫至1.6K,，高溫至675K

• 可測(cè)8英寸晶圓樣品

• 67GHz高頻探針

• 3 kV 高電壓探針

• 大溫區(qū)低溫漂探針

• 真空腔聯(lián)用傳送樣品

• ＜30 nm低振動(dòng)適用于顯微光學(xué)測(cè)量

• 霍爾效應(yīng)、鐵電,、半導(dǎo)體分析測(cè)試選件