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日本maedauni高檔噴漆用精密測量設備潔凈室
日本maedauni高檔噴漆用精密測量設備潔凈室 JA-13-T/JAC-13-T適用于需要清潔空氣的工作,如半導體,、精密儀器,、食品,、高級涂料,、醫(yī)療設備等,。
型號: JA-13-T/J...
所在地:深圳市
參考價:
¥2680更新時間:2024/10/12 13:10:50
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maedauniJA-13-T/JAC-13-T高檔噴漆用精密測量設備潔凈室
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日本進口KYORITSU接地電阻儀測量裝置多功能
日本進口KYORITSU接地電阻儀測量裝置多功能 KYORITSU/日本共立 KEW4300/4300BT?專門具有Bluetooth®通信功能的簡單...
型號: KEW4300/4...
所在地:深圳市
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¥7650更新時間:2024/10/11 21:31:45
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KYORITSU/日本共立KEW4300/4300BT接地電阻儀測量裝置多功能
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英國WEST吸引式小電荷量測量裝置噴嘴多功能
英國WEST吸引式小電荷量測量裝置噴嘴多功能 WEST/英國 212HS型212HS 型具有與之前型號相同的測量性能,,但提高了可操作性,。主體比傳統(tǒng)產品更小,。電池...
型號: 212HS型
所在地:深圳市
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¥2680更新時間:2024/10/11 17:02:57
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WEST/英國212HS型吸引式小電荷量測量裝置噴嘴多功能
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日本toadkk面板式電導率儀用于半導體測量
日本toadkk面板式電導率儀用于半導體測量 WBM-100緊湊的 DIN96 尺寸微電腦計算溫度補償具有細胞常數(shù)調節(jié)功能可顯示水溫
型號: WBM-100
所在地:深圳市
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¥6800更新時間:2024/10/11 12:26:19
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toadkkWBM-100面板式電導率儀用于半導體測量
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日本ceramic forum半導體分析裝置測量結晶
日本ceramic forum半導體分析裝置測量結晶 HERA FT1230DLTS方法是一款高感度測量結晶缺陷導致的電子狀態(tài)的良好方法。即便是內在微小的雜質或...
型號: HERA FT12...
所在地:深圳市
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¥9600更新時間:2024/10/11 12:24:37
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ceramic forumHERA FT1230半導體分析裝置測量結晶
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日本nogami電極拆卸手沖精確測量紐扣電池用
日本nogami電極拆卸手沖精確測量紐扣電池用用于沖壓原型紐扣電池的正負極材料,,精確的面積重量測量以及用于質量控制的樣品處理,。20年來支持國內外電池開發(fā)的標準工...
型號:
所在地:深圳市
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¥36500更新時間:2024/10/11 8:18:58
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nogami電極拆卸手沖精確測量紐扣電池用日本進口
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日本bunkoukeiki傳感器光譜靈敏度?測量
日本bunkoukeiki傳感器光譜靈敏度?測量 VC-250該裝置測量光電二極管和CCD/CMOS圖像傳感器等光電轉換元件的光譜特性(光譜靈敏度和光譜響應)。...
型號: VC-250
所在地:深圳市
參考價:
¥18600更新時間:2024/10/10 20:50:34
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bunkoukeikiVC-250傳感器光譜靈敏度?測量
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日本oji-keisoku便攜式橢圓偏振儀測量裝置
日本oji-keisoku便攜式橢圓偏振儀測量裝置 PAM-PTB100本裝置是測量通過平板等偏振板射出的光的偏振狀態(tài)的裝置,。一次測量6波長的橢圓率(a/b)和...
型號: PAM-PTB10...
所在地:深圳市
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¥19600更新時間:2024/10/10 18:47:32
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oji-keisokuPAM-PTB100便攜式橢圓偏振儀橢圓偏振儀
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日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置
日本oji-keisoku超高相位差雙折射測量裝置 PAM-UHR100本裝置以透明試樣為對象,,通過平行尼可光譜法測定數(shù)千至2萬nm左右的相位差及取向角。通過輸...
型號: PAM-UHR10...
所在地:深圳市
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¥26500更新時間:2024/10/10 18:45:33
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oji-keisokuPAM-UHR100超高相位差雙折射測量裝置
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日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差
日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300對光學薄膜偏振軸方位,、取向角及相位差值進行測定無需個人差異,,可簡便且短時間內測量
型號: PAM-PR300
所在地:深圳市
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¥18600更新時間:2024/10/10 18:43:16
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oji-keisokuPAM-PR300光軸測量裝置配向角位相差
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日本oji-keisoku相位差測量平行尼科耳旋轉
日本oji-keisoku相位差測量平行尼科耳旋轉 KOBRA-WFD0系列1.從超低相位差(2nm以下)到超高相位差(20000nm以下)的廣泛測量范圍2.高...
型號: KOBRA-WFD...
所在地:深圳市
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¥17600更新時間:2024/10/10 18:41:40
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oji-keisokuKOBRA-WFD0系列相位差測量平行尼科耳旋轉
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日本oji-keisoku相位差/橢球偏振測量裝置
日本oji-keisoku相位差/橢球偏振測量裝置 KOBRA-HB系列1.從超低相位差(2nm以下)到超高相位差(20000nm以下)的廣泛測量范圍2.高精度...
型號: KOBRA-HB系...
所在地:深圳市
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¥16800更新時間:2024/10/10 18:39:22
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oji-keisokuKOBRA-HB系列相位差橢球偏振測量裝置
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日本進口osp-inc手持式VOC測量裝置多功能
日本進口osp-inc手持式VOC測量裝置多功能 這是一種方便快捷的測量裝置,可以輕松,、快速地現(xiàn)場檢測石油基,、氯基等VOCs的總濃度。內置泵可實現(xiàn)地表氣體測量和...
型號:
所在地:深圳市
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¥2680更新時間:2024/10/10 17:47:35
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osp-inc手持式VOC測量裝置多功能
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日本mitaka非接觸式微透鏡陣列三坐標測量機
日本mitaka非接觸式微透鏡陣列三坐標測量機 MA系列配備了NH系列的所有基本形狀測量功能,,可以測量透鏡和模具的橫截面形狀,,并使用專用軟件一次性測量曲率和中心...
型號: MA系列
所在地:深圳市
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¥26800更新時間:2024/10/10 15:21:36
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mitakaMA系列非接觸式微透鏡陣列三坐標測量機
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日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置
日本mitaka非接觸三維輪廓高精度測量裝置 MLP系列MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量,。點自動對焦探頭和每個軸的控制(...
型號: MLP系列
所在地:深圳市
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¥25500更新時間:2024/10/10 15:19:49
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mitakaMLP系列非接觸三維輪廓高精度測量裝置
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日本mitaka非接觸三維測量裝置高精度耐磨損
日本mitaka非接觸三維測量裝置高精度耐磨損 NH系列NH系列實現(xiàn)了高精度和易用性,,解決了過去的測量問題。?可在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡峭的...
型號: NH系列
所在地:深圳市
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¥21800更新時間:2024/10/10 15:18:04
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mitakaNH系列非接觸三維測量裝置高精度耐磨損
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日本mitaka非接觸式表面粗糙度快速測量裝置
日本mitaka非接觸式表面粗糙度快速測量裝置 PF系列通過使用可實現(xiàn)指數(shù)測量速度提高 50 倍的掃描 AF 功能和高精度自動 XY 工作臺,,我們實現(xiàn)了數(shù)十毫米...
型號: PF系列
所在地:深圳市
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¥18900更新時間:2024/10/10 15:16:15
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mitakaPF系列非接觸式表面粗糙度快速測量裝置
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日本KEM熱物性測量裝置檢測絕熱材料/陶瓷等
日本KEM熱物性測量裝置檢測絕熱材料/陶瓷等 KEM/京都電子 TPS2500S/1500/500S/500測量絕熱材料,、陶瓷、金屬,、固體,、液體、粉末,、膏體,、凝...
型號: TPS2500S/...
所在地:深圳市
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¥24500更新時間:2024/10/10 11:06:40
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KEM/京都電子TPS2500S/1500/500S/500熱物性測量裝置檢測絕熱材料陶瓷等
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日本進口KEM快速導熱儀可測量多種材料功能
日本進口KEM快速導熱儀可測量多種材料功能 KEM/京都電子 QTM-710/700清晰、易讀的觸摸屏 5.7 英寸 TFT 彩色液晶顯示屏,。通過充分利用傳感器...
型號: QTM-710/7...
所在地:深圳市
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¥26800更新時間:2024/10/10 11:04:17
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KEM/京都電子QTM-710/700快速導熱儀可測量多種材料功能日本進口
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日本technomu橫截面積測量機非接觸式高精度
日本technomu橫截面積測量機非接觸式高精度 TCA2100開發(fā)用于測量動物韌帶的橫截面積使用激光位移傳感器,,精確測量由上卡盤機構懸掛的工件(韌帶等)。如果...
型號: TCA2100
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¥16800更新時間:2024/10/10 9:25:02
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technomuTCA2100橫截面積測量機非接觸式高精度