日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差返回列表頁

舉報(bào) 評(píng)價(jià)

參考價(jià): ￥ 18600

訂貨量: ≥100 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)PAM-PR300

品牌其他品牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地深圳市

在線詢價(jià) 加入對(duì)比查看聯(lián)系電話

更新時(shí)間：2024-10-10 18:43:16瀏覽次數(shù)：284次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自化工儀器網(wǎng)

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,能源,電子,電氣,綜合

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 特點(diǎn)介紹

對(duì)光學(xué)薄膜偏振軸方位,、取向角及相位差值進(jìn)行測定

無需個(gè)人差異,，可簡便且短時(shí)間內(nèi)測量

■特點(diǎn)

測定方式

旋轉(zhuǎn)偏光鏡方式

平行尼科耳旋轉(zhuǎn)方式

交叉尼科耳旋轉(zhuǎn)方式

測定波長

590nm

選項(xiàng)：450nm,、550nm,、630nm

樣品尺寸

□ 30～250mm

厚度20mm以下

測定面積

33mm2（5.8mm見方：感光體面）

測定項(xiàng)目

偏光軸向方位、方位角,、相位差

日本oji-keisoku光軸測量裝置配向角位相差 PAM-PR300 規(guī)格參數(shù)

測定項(xiàng)目

偏光軸方位,、配向角、位相差

測定対象

光學(xué)薄膜,、偏振板

測定原理

旋轉(zhuǎn)檢光子法,、平行二卷旋轉(zhuǎn)法、正交二卷旋轉(zhuǎn)方法

測定時(shí)間

約4秒（偏振軸測量）

測定波長

590nm（可選=450nm,、630nm等）

樣品尺寸

30mm~250mm,，t=20mm以下

系統(tǒng)配置

測定裝置主體,、光源裝置、筆記本電腦（Windows10）

主體尺寸

W380XH390 XD610 mm

本體重量

27kg

偏振軸方位測定相位差測定方式旋轉(zhuǎn)檢光子法平行尼可旋轉(zhuǎn)法測定項(xiàng)目吸收軸方位或透過軸方位相位差值,、取向角構(gòu)成角度分辨率0.001°0.0 01°角度精度（3σ）0.006°0.017°相位差分辨率N/A 0.01nm相位差精度（3σ）N/A 0.03nm光（LED）固定試樣臺(tái)檢光子A