目錄:多場(chǎng)低溫科技(北京)有限公司>>物性表征>>鐵電介電>> FEM.FeProbe鐵電測(cè)試系統(tǒng)
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更新時(shí)間:2025-02-27 15:36:08瀏覽次數(shù):112評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,電氣,綜合 |
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
提供包括電表,,算法,,自動(dòng)化程序和樣品桿在內(nèi)的?體化鐵電測(cè)量解決方案
實(shí)現(xiàn)介電/鐵電/多鐵?站式測(cè)量方案;
可完成薄膜和塊體樣品的介電,、鐵電,、熱釋電,、磁釋電測(cè)量;
支持鐵電器件的疲勞和印跡測(cè)試,;
可搭配低溫光纖,,實(shí)現(xiàn)光電聯(lián)合測(cè)量;
兼容多種低溫測(cè)量平臺(tái): MultiFields® ColdTUBE, 南京鵬?®, Oxford@ TeslatronPT, QD® PPMS, Cryogenics® 等
鐵電測(cè)試系統(tǒng) 組件
系統(tǒng)組件 – 01. 鐵電分析儀
系統(tǒng)組件 – 02. 樣品桿
耐高壓等鐵電測(cè)試樣品桿,并可兼容介電,、熱釋電等測(cè)試
·應(yīng)用案例
應(yīng)用案例一 PZT 薄膜的電滯回線測(cè)量
樣品信息:
500nm PZT薄膜樣品
多場(chǎng)產(chǎn)品:
1. FEM.Analyser
2. FEM.Probe
應(yīng)用案例一 PMN-PT 塊體的電滯回線測(cè)量
樣品信息:
PMN-PT塊體
5 mm× 5 mm × 0.2 mm
多場(chǎng)產(chǎn)品:
1. FEM.Analyser
2. FEM.Probe
多場(chǎng)低溫科技(北京)有限公司于2017年正式運(yùn)營(yíng),,在2021年團(tuán)隊(duì)整體遷入懷柔科學(xué)城產(chǎn)業(yè)園;并且公司在2020年獲得高新技術(shù)企業(yè)資質(zhì),,2023年獲得北京市專精特新企業(yè)認(rèn)證,。
多場(chǎng)科技積極推動(dòng)技術(shù)延伸,迅速發(fā)展出高水平的全環(huán)境超精密壓電運(yùn)動(dòng)控制以及綜合物性表征手段,,形成了模塊化的全品類超精密運(yùn)動(dòng)控制以及涵蓋力熱聲光電全方面的物性表征系列產(chǎn)品,,并推出了融合多場(chǎng)先進(jìn)技術(shù)的綜合物性表征平臺(tái)等整體化解決方案。公司產(chǎn)品已服務(wù)于國(guó)內(nèi)外百余所高校及研究機(jī)構(gòu),。
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