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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿
TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿可與原子探針、透射電鏡配套使用,， 有效地使原子 探針和透射電鏡檢測結合在一起,， 使樣品的觀察和分析更加方便。 TEM-APT Holder 電鏡連用三維 原子探針樣品桿用來夾持透射電鏡樣品放到透射電鏡下進行觀察,， 可以 360°旋轉樣品,， 透射電鏡 配套的樣品桿往往功能單一， 這款樣品桿可以滿足客戶的多種的需要,， 適合大專院校及科研院所 中與透射電鏡配套使用,。進口樣品桿往往價格不菲， 本公司的樣品桿不僅功能齊全且結實耐用,， 價格也遠低于進口設備的價格,。
產(chǎn)品型號 | TEM-APT Holder 電鏡連用三維原子探針樣品桿 |
1 、TEM-APT 樣品桿：三維原子探針（3DAP）和透射電鏡（TEM）是先 進的原子尺度表征手段,。 | |
主要特點 | 2,、三維原子探針的結果不是“可視"的，需要通過數(shù)據(jù)重構再現(xiàn),。透射電鏡能 提供“直接可視"的實驗結果,，但是結果是二維投影的，并且很難獲得三維的 單個原子尺度的成分信息,?；谒鼈兏髯缘膬?yōu)勢，我們開發(fā)了 3DAP-TEM 樣品 桿,，可以將原子探針（APT）試樣直接加載到 TEM 樣品桿上,。 |
產(chǎn)品結構 |
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（1）在 TEM 中直接觀察 APT 試樣上是否有令人感興趣的區(qū)域，使樣品檢測工作效率增加,； | |
（2）通過大角度傾轉試樣,，獲得不同角度試樣的形貌結構特征，為 3DAP 數(shù)據(jù)重構提供幫 助,； | |
產(chǎn)品作用 | （3） TEM 觀察過后的試樣可以直接移到 APT 中繼續(xù)實驗,。將 APT 結果與 TEM 圖像相結合，有 助于優(yōu)化重構參數(shù),，并使 3DAP 結果更具有可信度,。 （4）在原子水平上獲得了樣品的組成和結構。
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產(chǎn)品性能 | （1）接受錐形電化學拋光的樣品或聚焦離子束（FIB）制備的樣品柱,。 （2）允許 360°的圖像采集和層析圖像的重建,，不會因楔子缺失而造成信息損失。 （3）樣品可以很容易地從支架上取出,，然后直接轉移到 APT 機上進行進一步表征。 |
（4）兼容所有幾何形狀的極片間隙,。 |
