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當前位置:廣東皓天檢測儀器有限公司>>恒溫恒濕高低溫試驗箱>>低溫試驗箱>> GHTE-225PF低溫試驗箱測試電子元器件性能
GHTE-225PF
廣皓天
生產(chǎn)商
東莞市
更新時間:2024-12-06 11:34:10瀏覽次數(shù):304次
聯(lián)系我時,,請告知來自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 5萬-10萬 |
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應用領(lǐng)域 | 化工,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 | 溫度范圍 | - 90℃~150℃ |
溫度波動度 | ≤±0.5℃ | 溫度均勻度 | ±2℃ |
升溫速率 | 從 20℃~150℃,約 30min,;非線性空載時,,升溫速率約 3.5℃/ 分鐘 | 降溫速率 | 從 20℃~-70℃,約 75min ,;非線性空載時,,降溫速率約 1.0℃/ 分鐘 |
工作室尺寸 | 50×60×75CM (寬 × 深 × 高) | 電源: | AC380V 50/60HZ |
風速 | 1.7~2.5m/s | 樣品托架 | 2 層 (標配) |
通訊功能 | 配備 RS232 或 RS485 通訊功能,可連接電腦,,實現(xiàn)遠程控制 |
在當今科技飛速發(fā)展的時代,電子元器件作為各類電子設(shè)備的核心組成部分,,其在不同環(huán)境下的性能穩(wěn)定性至關(guān)重要,。低溫試驗箱專為測試電容、電阻,、芯片,、半導體器件等電子元器件在低溫環(huán)境下的表現(xiàn)而設(shè)計,是保障電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵設(shè)備,。
一,、核心功能與技術(shù)參數(shù)
精準控溫系統(tǒng)
采用微電腦智能控溫技術(shù),能夠精確設(shè)定并穩(wěn)定維持所需的低溫環(huán)境,??販胤秶鷱V泛,可低至 [具體低溫下限溫度],,溫度波動度極小,,在 ±[X]℃以內(nèi),確保測試過程中溫度的一致性和準確性,,為電子元器件提供穩(wěn)定可靠的低溫測試條件,。
具備快速降溫能力,從常溫降至設(shè)定低溫的時間短,,大大提高了測試效率,,減少了測試周期。
均勻溫場設(shè)計
風道循環(huán)系統(tǒng)和內(nèi)部結(jié)構(gòu)優(yōu)化,,使箱內(nèi)溫場均勻性,。在有效工作空間內(nèi),,溫度均勻度可控制在 ±[Y]℃,保證了每個電子元器件在相同的低溫環(huán)境下進行測試,,避免因溫度差異導致測試結(jié)果偏差,,從而得出更精準可靠的性能數(shù)據(jù)。
低溫試驗箱測試電子元器件性能
二,、測試項目與優(yōu)勢
參數(shù)穩(wěn)定性測試
低溫試驗箱能夠模擬極-端寒冷環(huán)境,,在低溫條件下對電子元器件的各種關(guān)鍵參數(shù)進行長時間監(jiān)測。例如,,對于電容,,可測試其電容值、損耗角正切等參數(shù)在低溫環(huán)境下隨時間的變化情況,;對于電阻,,監(jiān)測其電阻值的穩(wěn)定性。通過精確的測量和數(shù)據(jù)分析,,確定電子元器件在低溫下參數(shù)是否發(fā)生漂移或超出允許范圍,,及時發(fā)現(xiàn)潛在的質(zhì)量問題,為產(chǎn)品的設(shè)計改進和質(zhì)量控制提供有力依據(jù),。
絕緣性能檢測
在低溫環(huán)境中,,電子元器件的絕緣材料性能可能會發(fā)生變化。本試驗箱可對電容,、芯片等的絕緣電阻進行測量,,評估其在低溫下的絕緣性能是否滿足要求。通過施加特定的電壓,,檢測絕緣介質(zhì)中的泄漏電流,,精確計算絕緣電阻值。若絕緣電阻在低溫下下降明顯,,可能導致電子設(shè)備的漏電,、短路等故障,提前發(fā)現(xiàn)并解決此類問題可有效提高電子產(chǎn)品的安全性和可靠性,。
三,、人性化設(shè)計與操作便捷性
寬敞的測試空間
內(nèi)部工作室設(shè)計合理,提供了充足的空間,,可容納多種規(guī)格和數(shù)量的電子元器件進行批量測試,。同時,配備了靈活的樣品架和擱板,,方便用戶根據(jù)測試需求進行調(diào)整和布局,,提高測試效率和空間利用率。
直觀的操作界面
采用大屏幕液晶顯示屏,,實時顯示試驗箱的溫度設(shè)定值,、實際溫度值,、運行時間、工作狀態(tài)等信息,,一目了然,。操作面板簡潔易懂,用戶可通過按鍵輕松設(shè)置各項參數(shù),,如溫度、時間,、制冷模式等,,無需復雜的培訓即可熟練操作。
安全保護功能完備
具備多重安全保護措施,,包括超溫保護,、漏電保護、壓縮機過載保護等,。當設(shè)備出現(xiàn)異常情況時,,能夠迅速自動停機并發(fā)出警報信號,有效保護測試樣品和設(shè)備本身的安全,,避免因設(shè)備故障造成的損失,。
四、數(shù)據(jù)記錄與分析
數(shù)據(jù)采集與存儲
內(nèi)置高精度的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),,可實時記錄測試過程中的溫度數(shù)據(jù),、電子元器件的性能參數(shù)變化等信息。數(shù)據(jù)存儲容量大,,可存儲大量的測試數(shù)據(jù),,方便用戶隨時查閱和分析歷史測試記錄。
數(shù)據(jù)分析軟件
配套專業(yè)的數(shù)據(jù)分析軟件,,能夠?qū)Σ杉降臄?shù)據(jù)進行深入處理和分析,。軟件可生成詳細的測試報告,包括溫度曲線,、參數(shù)變化曲線,、統(tǒng)計分析結(jié)果等,以直觀的圖表形式呈現(xiàn)給用戶,,幫助用戶快速準確地評估電子元器件在低溫環(huán)境下的性能表現(xiàn),,為產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量改進提供有力的數(shù)據(jù)支持。
五,、廣泛應用領(lǐng)域
低溫試驗箱在電子行業(yè)中具有廣泛的應用,。無論是消費電子領(lǐng)域的手機、平板電腦,、智能穿戴設(shè)備,,還是工業(yè)控制領(lǐng)域的自動化設(shè)備,、通信基站設(shè)備等,其電子元器件都需要經(jīng)過嚴格的低溫性能測試,。通過使用本低溫試驗箱,,可確保這些電子產(chǎn)品在寒冷環(huán)境下能夠穩(wěn)定可靠地運行,提高產(chǎn)品的市場競爭力和用戶滿意度,。
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