目錄:東莞市賽準(zhǔn)科技有限公司>>高低溫測試設(shè)備>>高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)>> 高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 其它沖擊試驗(yàn)機(jī) |
---|---|---|---|
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
產(chǎn)品介紹:
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)又名溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)或恒溫槽,,主要用于LED、LCD,、PCB,、電子、電器,、通訊,、新能源、儀器儀表,、電工材料,、車輛、金屬,、電子產(chǎn)品及電子元?dú)饧仍谠诟叩蜏厮查g突變或交變循環(huán)高溫,、低溫環(huán)境下,檢驗(yàn)其材料,、配件或儀器設(shè)備耐高溫,、耐寒性能及可能造成的損壞壽命縮減等。
執(zhí)行及滿足標(biāo)準(zhǔn):
1.GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
2.GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 溫度沖擊試驗(yàn)
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
3.GJB360B-2009 溫度沖擊試驗(yàn)
4.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) A:低溫
5.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第 2 部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn) B:高溫
6.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
7.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)禁止:易燃,、爆炸,、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存生物試樣的試驗(yàn),或儲存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存放射性物質(zhì)試樣的試驗(yàn),;及儲存劇毒物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲存試驗(yàn)或儲存過程中可能產(chǎn)生劇毒物質(zhì)的試樣的試驗(yàn)及儲存,。
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)