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ISHIKAWA石川

IMADA 今田

HIMAC 株式會(huì)社

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MTHERTOOL 株式會(huì)社

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NICHIRYO立洋

MITSUBISHI三菱電機(jī)

CYGNUS賽納生物

ASKER奧斯卡

TORAY東麗

EIKOSOKKI英工測(cè)器

ADVANTEC 東洋

Kakuhunte寫真化學(xué)

MITUTOYO三豐

SANKO三高

MATSUO松尾電器

SUZUKI 鈴木

TOKYOKODEN東京光電

TEI-ENG泰榮工程

KURABO倉紡

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SEIDENSHA精電舍

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今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì)

2024-11-14  閱讀(134)

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今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì) 

今日推薦KAKUHUNTER寫真化學(xué)成像膜厚計(jì) 

這是一種膜厚計(jì),,可以利用顯微圖像光譜法將透明多層膜的膜厚分布可視化,。

由于使用光學(xué)干涉法計(jì)算膜厚,因此可以

以0.1nm以下的分辨率以3D方式顯示膜厚分布,。

 

測(cè)量顯微鏡視野內(nèi)任何區(qū)域的

膜厚和膜質(zhì)量分布,,并以 3D 形式顯示分布

分辨率相當(dāng)于可見光波長干膜測(cè)厚儀

波長范圍從 450nm 到 750nm 可以以 1nm 增量 

使用與反射膜厚度監(jiān)視器相同的計(jì)算引擎進(jìn)行并行計(jì)算

應(yīng)用實(shí)例

① 數(shù)百層重復(fù)層壓薄膜、溝槽等復(fù)合結(jié)構(gòu),。

② 使用 EMA(有效介質(zhì)近似)法估算亞微米圖案的密度

③ 局部結(jié)晶度評(píng)價(jià)

您可以根據(jù)工作和應(yīng)用選擇物鏡,。

  • 我想輕松測(cè)量透明多層薄膜每一層的厚度,。

  • 我想自動(dòng)測(cè)量多個(gè)點(diǎn)的薄膜厚度。

  • 我想以10μm以下的高分辨率研究膜厚分布,。

  • 我想測(cè)量半透明板的厚度,。


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