恩智超高采樣率超級電容容量內阻測試儀N8130系列簡介

同系列型號：N8130A-060A5 N8130A-06005 N8130A-06020 N8130A-06100

N8130超高采樣率超級電容測試儀為NGI公司針對超級電容、電池研發(fā)和生產而自主設計開發(fā)的新一代專用測試儀器,。采樣速度高達1ms,，充轉放過程無縫切換，超級電容,、電池充電容量,、放電容量、充電等效串聯(lián)內阻,、放電等效串聯(lián)內阻,、能量轉換效率、循環(huán)壽命等電氣參數(shù)進行高精度測試測量,。N8130支持六步法,，IEC62391，QC/T 741等全部主流測試標準,，用戶可根據(jù)需要靈活選,。N8130上位機軟件支持平臺化測試應用，用戶可根據(jù)測試工藝和測試流程自行定制測試文件，測試結果可方便存儲和導出,。導出格式可支持數(shù)據(jù)庫,、EXCEL、JPG文件,。

產品特點

■  電流范圍：0-50mA / 500mA / 2A / 10A

■  電壓范圍：0-6V

■  恒流充電,、恒流放電、恒壓充電,、循環(huán)壽命,、充電容量，放電容量,、DCIR(直流等效內阻)等參數(shù)測試

■  采樣&通訊傳輸間隔高達1ms,，真實還原測試過程數(shù)據(jù)

■  充轉放過程無縫切換，無過充過放

■  功能豐富的上位軟件,，支持生產分選功能

■  每通道對應狀態(tài)指示燈,，分選更方便

■  強大的數(shù)據(jù)存儲與分析功能 

■  百兆以太網(wǎng)通訊

■  兼容A/h、W/h,、F等多種容量測試方法

功能與優(yōu)勢

容量測量

直流內阻(DCIR)測試

壽命測試

N8130可通過重復充放電循環(huán)測試,，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線,，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命,、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料,、工藝,、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

四線制測量功能

超級電容測試過程中需要輸出較大電流,，測試線將會引入較大電壓降（線損）,，影響測量精度。N8130全系列型號均采用四線制接線方式,，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差,，從而確保測量精度。

測試夾(治)具

考慮到不同規(guī)模的測試應用場景,，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾,、12通道專用治具。兩種測試夾（治）具均為四線制接法,。

測試軟件

(1) N8130測試軟件采用平臺化設計,，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。

(2) 類Office界面風格,，各通道獨立顯示,，支持電壓電流波形繪制,，可以表格形式顯示結果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備強大測試功能同時,，兼具美觀易用優(yōu)點,。

恩智超高采樣率超級電容容量內阻測試儀N8130系列應用領域