微型真空探針臺 參考價:面議
Mini CPS微型真空探針臺介電/壓電/鐵電/熱釋電/光電材料的電學性能表征,,機械彈性設計,,避免探針損壞薄膜樣品。鐵電分析儀 參考價:面議
FEMS100鐵電分析儀采用虛擬接地測量技術模式,,提高測量精度,,適用溫度-160℃~450℃,。介電溫譜測量系統(tǒng) 參考價:面議
介電溫譜測量系統(tǒng)測量介電常數、介電損耗,、阻抗以及它們隨溫度,、時間、頻率變化的曲線,,同時得出相位θ,、Cole-Cole圖、導納圖和壓電材料的機電耦合系數(選配)等...高壓極化裝置 參考價:面議
高壓極化裝置可以對不同材料,、厚度的陶瓷樣品進行多路同步極化,。每路可設置不同的的極化電壓和電壓時間,并且每路極化互不影響。具有安全互鎖功能,,取樣和放樣時,,高壓切斷...高溫電阻測量系統(tǒng) 參考價:面議
高溫電阻測量系統(tǒng)使用多種測量方法測量材料電阻,如四線電阻法,,2線法,,三環(huán)電極法,4探針法等,。薄膜電阻測試儀(四探針,、電渦流) 參考價:面議
電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都至關重要,,從半導體制造到可穿戴技術所需的柔性電子產品。R50薄膜電阻測試儀(四探針,、電渦流)在金屬膜均勻性分布,、離子摻...