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場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) SEM4000
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
  • 所在地 上海市
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更新時(shí)間:2023-11-08 13:00:34瀏覽次數(shù):592

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SEM4000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度,、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,。

詳細(xì)介紹

SEM4000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是一款分析型熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡,配備了高亮度,、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,。三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流大且連續(xù)可調(diào),,在EDS,、EBSD、WDS等應(yīng)用上具有明顯優(yōu)勢(shì),。支持低真空模式,,可直接觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品。標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,,以及直觀的操作界面,,讓您的分析工作倍感輕松。

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡


*低真空模式

高分辨率

束流連續(xù)可調(diào)

*1min內(nèi)快速換樣

三級(jí)磁透鏡

無(wú)漏磁物鏡

產(chǎn)品特點(diǎn)
01

配備高亮度,、長(zhǎng)壽命的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍

02

分辨率高,,30 kV下優(yōu)于1 nm的極限分辨率

03

三級(jí)磁透鏡設(shè)計(jì),束流可調(diào)范圍大

04

*低真空模式,,以及高性能的低真空二次電子探測(cè)器,,可觀察導(dǎo)電性弱或不導(dǎo)電樣品

05

無(wú)漏磁物鏡設(shè)計(jì),可直接觀察磁性樣品

06

標(biāo)配的光學(xué)導(dǎo)航模式,,中文操作軟件,,讓分析工作更輕松

應(yīng)用案例

PA-玻纖復(fù)合材料

加速電壓:10 kV / 放大倍率:×500

二氧化硅微球

加速電壓:10 kV / 放大倍率:×80000

金屬斷口

加速電壓:15 kV / 放大倍率:×5000

金屬微觀組織(鋁銅焊接件)

加速電壓:20 kV / 放大倍率:×10000

水菜花花粉

加速電壓:10 kV / 放大倍率:×50000

鈦酸鍶鋇陶瓷

加速電壓:10 kV / 放大倍率:×10000

鈦合金

加速電壓:10 kV / 放大倍率:×5000

鈦合金

加速電壓:10 kV / 放大倍率:×10000

產(chǎn)品參數(shù)
關(guān)鍵參數(shù)分辨率1 nm @ 30 kV,SE
0.9 nm @ 30 kV, STEM
加速電壓200 V ~ 30 kV
放大倍率1 ~ 1,000,000 x
電子槍類(lèi)型肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
樣品室真空系統(tǒng)全自動(dòng)控制
低真空模式(選配)最大180Pa
攝像頭雙攝像頭(光學(xué)導(dǎo)航+樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控)
行程X:120 mm
Y:115 mm
Z:50 mm
T: -10°~ +90°
R: 360°
探測(cè)器和擴(kuò)展標(biāo)配側(cè)向低角度電子探測(cè)器
選配低真空二次電子探測(cè)器
背散射電子探測(cè)器
STEM自動(dòng)插入式掃描透射探測(cè)器
樣品交換倉(cāng)
EDS能譜儀
EBSD背散射衍射
EBIC電子束感生電流
CL陰極熒光
高低溫原位拉伸臺(tái)
納米機(jī)械手
大圖拼接
軌跡球&旋鈕控制板
軟件語(yǔ)言中文
操作系統(tǒng)Windows
導(dǎo)航光學(xué)導(dǎo)航,、手勢(shì)快捷導(dǎo)航
自動(dòng)功能自動(dòng)亮度對(duì)比度,、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散
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