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TH510系列半導(dǎo)體特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當(dāng)前半導(dǎo)體功率器件發(fā)展趨勢,，針對半導(dǎo)體材料及功率器件設(shè)計(jì)的分析儀器。

儀器采用了一體化集成設(shè)計(jì),，二極管,、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體功率器件寄生電容,、CV特性可一鍵測試,，無需頻繁切換接線及設(shè)置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試,，適用于生產(chǎn)線快速測試、自動(dòng)化集成,。

CV曲線掃描分析能力亦能滿足實(shí)驗(yàn)室對半導(dǎo)體材料及功率器件的研發(fā)及分析,。

儀器設(shè)計(jì)頻率為1kHz-2MHz,，VGS電壓可達(dá)±40V，VDS電壓可達(dá)±200V/±1500V/±3000V,，足以滿足大多數(shù)功率器件測試,。

TH510系列半導(dǎo)體特性分析儀性能特點(diǎn)：

l  一體化設(shè)計(jì)：LCR+VGS低壓源＋VDS高壓源＋通道切換＋上位機(jī)軟件

l  單管器件（點(diǎn)測）,、模組器件（列表掃描）,、曲線掃描（選 件）三種測試方式

l  四寄生參數(shù)（Ciss,、Coss、Crss,、Rg或Cies,、Coes、Cres,、 Rg）同屏一鍵測量及顯示

l  標(biāo)配2通道,，可擴(kuò)展至6通道，可測單管、多芯或模組器件

l  CV曲線掃描,、Ciss-Rg曲線掃描

l  電容快速充電技術(shù),，實(shí)現(xiàn)快速測試

l  接觸檢査Cont

l  通斷測試OP_SH

l  自動(dòng)延時(shí)設(shè)置

l  柵極電壓VGS;0 - 土40V

l  漏極電壓VDS;0 -±200V

l  10檔分選

功能特點(diǎn)：

A.一體化測試,，集成度高,、體積小,、效率高

一臺(tái)儀器內(nèi)置了LCR數(shù)字電橋,、VGS電壓源,、VDS電壓源,、高低壓切換矩陣以及上位機(jī)軟件，將復(fù)雜的接線、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統(tǒng)內(nèi),，操作更簡單,。特別適合產(chǎn)線快速化、自動(dòng)化測試,。

B.單管器件測試,，10.1寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示,，讓細(xì)節(jié)一覽無遺

MOSFET或IGBT最重要的四個(gè)寄生參數(shù)：Ciss,、Coss,、Crss、Rg,，Cies,、Coes、Cres,、Rg均可一鍵測試,，10.1寸大屏可同時(shí)將測量結(jié)果,、等效電路圖,、分選結(jié)果等重要參數(shù)同時(shí)顯示，一目了然,。

一鍵測試單管器件器件時(shí),，無需頻繁切換測試腳位,、測量參數(shù)、測量結(jié)果,，大大提高了測試效率,。

C.列表測試，多個(gè),、多芯,、模組器件測量參數(shù)同屏顯示

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持最多6個(gè)單管器件、6芯器件或6模組器件測試,，所有測量參數(shù)通過列表掃描模式同時(shí)顯示測試結(jié)果及判斷結(jié)果,。

D.曲線掃描功能（選件）

在MOSFET的參數(shù)中，CV特性曲線也是一個(gè)非常重要的指標(biāo),，如下圖

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,，可以以對數(shù)、線性兩種方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描,，可同時(shí)顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線,；同一Vg,、不同參數(shù)多條曲線。

E.接觸檢查（Contact）功能,，提前排除自動(dòng)化測試隱患

F.快速通斷測試（OP_SH）,排除損壞器件

在半導(dǎo)體器件特性測試時(shí),，由于半器件本身是損壞件，特別是多芯器件其中一個(gè)芯已經(jīng)損壞的情況下,，測試雜散電容仍有可能被為合格,，而半導(dǎo)體器件的導(dǎo)通特性才是最重要的特性。

因此,，對于本身導(dǎo)通特性不良的產(chǎn)品進(jìn)行C-V特性測試是沒有必要的,，不僅僅浪費(fèi)了測量時(shí)間,，同時(shí)會(huì)由于C-V合格而混雜在良品里，導(dǎo)致成品出貨后被退回帶來損失.

TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試（OP_SH）功能,可用于直接判斷器件本身導(dǎo)通性能,。

G.模組式器件設(shè)置,，支持定制

針對模組式器件如雙路（Dual）MOSFET、多組式IGBT,，有些器件會(huì)有不同類型芯片混合式封裝;TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化,，常見模組式芯片Demo已內(nèi)置，特殊芯片支持定制.

H.簡單快捷設(shè)置

I.10檔分選及可編程HANDLER接口

J.支持定制化,，智能固件升級(jí)方式

同惠儀器對于客戶而言是開放的,，儀器所有接口、指令集均為開放設(shè)計(jì),，客戶可自行編程集成或進(jìn)行功能定制,，定制功能若無硬件更改，可直接通過固件升級(jí)方式更新,。

儀器本身功能完善,、BUG解決、功能升級(jí)等,，都可以通過升級(jí)固件(Firmware)來進(jìn)行更新,，而無需返廠進(jìn)行。

固件升級(jí)非常智能,，可以通過系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進(jìn)行,，智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級(jí)包,，并自動(dòng)進(jìn)行升級(jí)

K.解決Ciss,、Coss、Crss,、Rg產(chǎn)線/自動(dòng)化系統(tǒng)高速測試精度

同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經(jīng)驗(yàn)積累,，得以在產(chǎn)線、自動(dòng)化測試等高速高精度測試場合,，都能保證電容,、電阻等測試精度。

常規(guī)產(chǎn)線測試,，提供標(biāo)準(zhǔn)0米測試夾具,，直插器件可直接插入進(jìn)行測試，Ciss,、Coss,、Crss、Rg測試精度高,。

針對自動(dòng)化測試,，由于自動(dòng)化設(shè)備測試工裝通常需要較長連接線,，大多自動(dòng)化設(shè)備生產(chǎn)商在延長測試線時(shí)會(huì)帶來很大的精度偏差，為此,，同惠設(shè)計(jì)了2米延長線并內(nèi)置了2米校準(zhǔn),，保證Ciss、Coss,、Crss,、Rg測試精度和0米測試夾具一致。

L.半導(dǎo)體元件寄生電容知識(shí)

在高頻電路中,，半導(dǎo)體器件的寄生電容往往會(huì)影響半導(dǎo)體的動(dòng)態(tài)特性,，所以在設(shè)計(jì)半導(dǎo)體元件時(shí)需要考慮下列因數(shù)

在高頻電路設(shè)計(jì)中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來的影響；MOS管的寄生電容會(huì)影響管子的動(dòng)作時(shí)間,、驅(qū)動(dòng)能力和開關(guān)損耗等多方面特性,；寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計(jì)中也是至關(guān)重要，以MOSFET為例,。

M.標(biāo)配附件

產(chǎn)品應(yīng)用：

■ 半導(dǎo)體元件/功率元件

二極管,、三極管、MOSFET,、IGBT,、晶閘管、集成電路,、光

電子芯片等寄生電容測試,、C-V特性分析

■ 半導(dǎo)體材料

晶圓切割、C-V特性分析

■ 液晶材料

彈性常數(shù)分析

■電容元件

電容器C-V特性測試及分析,，電容式傳感器測試分析

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