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當前位置:蘇州品恩儀器科技有限公司>>電子顯微鏡>>掃描電子顯微鏡>> SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡
參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號SU3800/SU3900
品 牌Hitachi/日立
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地蘇州市
更新時間:2025-01-07 10:55:16瀏覽次數(shù):612次
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從廣域到微小領(lǐng)域的觀察分析。 廣泛活躍在材料或產(chǎn)品的品質(zhì)管理中,。
掃描電子顯微鏡SU3800/3900在生產(chǎn)鋰離子電池過程中,,被廣泛用于來料檢測、生產(chǎn)異物的分析等,??蒵以實現(xiàn)顆粒的細微表面形貌分析,、三維形狀分析,EDS構(gòu)成信息分析等多維分析,。多種分析均可實現(xiàn)自動化,,有望提升鋰離子電池的生產(chǎn)效率。
兼?zhèn)洳僮餍院蛿U展性,,也可應(yīng)對大樣品的觀察,。
SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡搭載了多功能大樣品倉,大樣品的分析,;搭配多附件,,可對正極材料進行多方位分析。另外,,可搭載直徑可達200mm(3800),,300mm(3900)的樣品,進行多個樣品的一并分析,。
多功能超大樣品倉
樣品臺可搭載超大/超重樣品
通過更換樣品提示,,可防止由于與樣品的接觸而損壞設(shè)備或樣品
GUI上顯示更換樣品的操作步驟??梢员苊庖蛉藶榈恼`操作而導(dǎo)致樣品污染或損壞。即使是難以檢測高度的凹凸不平的樣品或者是超大樣品,,也能夠輕松更換,。
樣品交換倉
選配樣品交換倉,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,,大大提高了工作效率,。
具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度
SU3800 / SU3900配置了樣品臺自由模式,開放了樣品臺移動的自由度,。操作人員可自行判斷,,自由移動樣品臺。
選擇樣品臺自由模式時,,請同時選配紅外CCD探測器,。
紅外CCD探測器*,提高了樣品臺移動的安全性
紅外CCD探測器是用于監(jiān)控樣品倉內(nèi)部的裝置,。通過使用紅外線攝像機,,可以在觀察SEM圖像的同時監(jiān)視樣品倉內(nèi)部情況。為了獲得更詳細的位置,,放大CCD圖像,,并且移動觀察位置。
配件
支持全視野移動,SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察
1,、與GUI聯(lián)合,,可配備樣品倉室導(dǎo)航相機
與GUI聯(lián)合的SEM MAP,,正是因為采用了樣品倉室導(dǎo)航相機,才得以實現(xiàn)廣角相機導(dǎo)航功能*,。在SEM MAP上指出觀察目標位置,,可以順利地移動到任意的位置上。使用大視野相機導(dǎo)航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像,,通過自由放大或縮小圖像,,可以將大視野的彩色圖像切換到高倍率的SEM圖像。
配件
2,、覆蓋整個可觀察區(qū)域
相機導(dǎo)航系統(tǒng)通過圖像拼接功能可以實現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察,。觀察區(qū)域為直徑130mm(SU3800)/ 直徑200mm(SU3900),并且可以與樣品臺R一起聯(lián)動,,移動到大型樣品的觀察區(qū)域,。
3、支持360度旋轉(zhuǎn)
SEM MAP操作界面可直觀的顯示樣品與探測器的位置關(guān)系,,因此在觀察高度差大的樣品時,,可根據(jù)需求旋轉(zhuǎn)樣品臺或電子束來獲得觀察分析位置,避免陰影效應(yīng)造成的影響,。
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