AEC-Q100 標(biāo)準(zhǔn)3：由汽車電子委員會(huì)（AEC）制定，是車用 IC 芯片的綜合可靠性測(cè)試認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn),。其中包含針對(duì)高溫工作壽命（HTOL）測(cè)試,，通常要求在 125℃環(huán)境下持續(xù) 1000 小時(shí)，用于評(píng)估芯片在高溫長(zhǎng)期工作條件下的可靠性,。

GB/T 2423 系列標(biāo)準(zhǔn)4：是國(guó)內(nèi)系統(tǒng)的環(huán)境試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn),，用于評(píng)估電工電子產(chǎn)品在不同環(huán)境條件下的性能和可靠性，包含溫度試驗(yàn),、濕度試驗(yàn)等內(nèi)容,。其中 GB/T 2423.2-2008 規(guī)定了高溫試驗(yàn)方法，包括非散熱樣品（恒定高溫）與散熱樣品（溫度漸變）的測(cè)試流程,，溫度梯度≤3℃/min,。

ISO 16750-4 標(biāo)準(zhǔn)4：是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）發(fā)布的關(guān)于汽車電子設(shè)備的環(huán)境測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，包含冷熱沖擊測(cè)試要求,，規(guī)定了汽車電子設(shè)備必須承受的高低溫交替環(huán)境條件,，確保其在長(zhǎng)期使用過程中不發(fā)生性能退化或功能故障。

IEC 60068-2-14 標(biāo)準(zhǔn)4：由國(guó)際電工委員會(huì)（IEC）發(fā)布,，適用于汽車及其他領(lǐng)域的電子元件,，定義了冷熱沖擊測(cè)試的溫度范圍、測(cè)試周期和方法,，廣泛應(yīng)用于汽車電子設(shè)備和組件的可靠性測(cè)試,。

SAE J1211 標(biāo)準(zhǔn)4：由美國(guó)汽車工程師協(xié)會(huì)（SAE）制定，專門用于汽車溫度循環(huán)測(cè)試,，提供了用于評(píng)估汽車零部件在快速溫度變化下表現(xiàn)的測(cè)試方法,，適用于塑料、橡膠,、電氣部件等材料,。

GMW 3172 標(biāo)準(zhǔn)4：是通用汽車公司（GM）制定的標(biāo)準(zhǔn)，適用于汽車零部件的溫度和濕度循環(huán)測(cè)試，規(guī)定了汽車組件需要經(jīng)過的冷熱沖擊環(huán)境,，并描述了測(cè)試過程中所需的溫度范圍,、時(shí)間和條件。