標(biāo)題：粗糙度儀

產(chǎn)品概述：

SANNO S248-I粗糙度儀是觸針式表面粗糙度測(cè)量?jī)x,，它適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng),、實(shí)驗(yàn)室、計(jì)量室,，可測(cè)量多種機(jī)加工零件的表面粗糙度,，根據(jù)選定的測(cè)量條件計(jì)算相應(yīng)的參數(shù)，在液晶顯示器上清晰地顯示出全部測(cè)量參數(shù)和輪廓圖形,。

符合下列標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 3505-2009 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 術(shù)語 定義及表面結(jié)構(gòu)參數(shù),；

GB/T 6062-2009 產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范（GPS）表面結(jié)構(gòu) 輪廓法 接觸（觸針）式儀器的標(biāo)稱特性。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

多參數(shù)測(cè)量：Ra,、Rz,、Ry、Rq,、Rp,、Rv、Rt,、R3z,、Rmax、RSk,、RS,、RSm、 Rmr,；

◆ 高精度電感傳感器；

◆RC,、PC-RC,、GAUSS、D-P  四種濾波方式,；

◆兼容 TSO,、DIN,、ANSI、JIS 四種標(biāo)準(zhǔn),；

◆ OLED 液晶,，可顯示漢字、全部參數(shù)及圖形,；

◆ 可以中英文轉(zhuǎn)換,；

◆ 測(cè)量數(shù)據(jù)有公制英制轉(zhuǎn)換；

◆ 內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn) USB 接口,，可與 pc 機(jī)通訊,；

◆ 帶有測(cè)值存儲(chǔ)功能及存儲(chǔ)數(shù)據(jù)查詢功能；

◆ 內(nèi)置藍(lán)牙打印芯片,，可無線連接打印機(jī),，可以打印全部參數(shù)及輪廓圖形；

◆ 打印數(shù)據(jù)有自定義內(nèi)容設(shè)置,；

◆ 兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī),、自動(dòng)關(guān)機(jī)；

◆ 電機(jī)一體化設(shè)計(jì),，體積小,，使用方便快捷；

◆ 測(cè)量參數(shù)設(shè)置有快捷方式,；

◆ 實(shí)時(shí)時(shí)鐘設(shè)置及顯示,，方便數(shù)據(jù)記錄及存儲(chǔ)；

◆ 具有自動(dòng)休眠,、自動(dòng)關(guān)機(jī)等節(jié)點(diǎn)功能,；

◆ 可以選配曲面?zhèn)鞲衅鳎】讉鞲衅?，深槽傳感器,，直角轉(zhuǎn)接機(jī)構(gòu)，測(cè)量平臺(tái),， 傳感器保護(hù)套,，接長(zhǎng)桿等附件。

測(cè)量原理：

測(cè)量工件表面粗糙度時(shí),，將傳感器放在工件被測(cè)表面上,，由驅(qū)動(dòng)器內(nèi)部的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)傳感器沿被測(cè)表面做等速滑行，傳感器通過內(nèi)置的銳利觸針感受被測(cè)表面的粗糙度,，此時(shí)工件被測(cè)表面的粗糙度引起觸針產(chǎn)生位移,，該位移使傳感器電感線圈的電感量發(fā)生變化，從而在傳感器輸出端產(chǎn)生與被測(cè)表面粗糙度成比例的模擬信號(hào),，該信號(hào)經(jīng)過放大之后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng),，再對(duì)采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字濾波和參數(shù)計(jì)算,，將測(cè)量結(jié)果在液晶顯示器上讀出，也可在打印機(jī)上輸出,，還可以與 PC 機(jī)進(jìn)行通訊,。

性能參數(shù)：

探頭配件

TS100-BS標(biāo)準(zhǔn)傳感器

適用于,；平面,；軸；孔  （測(cè)孔內(nèi)表面時(shí),，孔最小直徑為5mm,，深度最大為22mm）

TS110-QM曲面?zhèn)鞲衅?/span>

適用于；可測(cè)量曲率半徑大于3mm的凸凹曲面工件表面,，配合測(cè)量平臺(tái)使用

TS120-XK小孔傳感器

適用于,；可測(cè)量孔直徑大于2mm的內(nèi)孔表面粗糙度，最大深度為9mm

TS130-GC溝槽傳感器

適用于,；可測(cè)量槽寬大于2mm,，槽深3mm的溝槽或者高度小于3mm的臺(tái)階的表面粗糙度，配合測(cè)量平臺(tái)使用

TS131-SC深槽傳感器

適用于,；可測(cè)量槽寬大于3mm,，槽深10mm的溝槽或者高度小于10mm的臺(tái)階的表面粗糙度，配合測(cè)量平臺(tái)使用