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參考價(jià)	面議

掃描電鏡（SEM）

FEI/賽默飛

產(chǎn)地類別	國(guó)產(chǎn)	價(jià)格區(qū)間	面議
應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工

Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可進(jìn)行高分辨率成像，并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析,。

詳細(xì)介紹

Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡材料表征

先進(jìn)的材料表征實(shí)驗(yàn)室需要使用新技術(shù),，且將分析儀器（包括 SEM掃描電鏡）的性能發(fā)揮到頂。這些實(shí)驗(yàn)室中絕大多數(shù)都是多用戶使用,，且不同用戶的經(jīng)驗(yàn)水平不盡相同,，同時(shí)，掃描電鏡的上機(jī)時(shí)間非常寶貴,，因此必須避免在維護(hù),、對(duì)中、培訓(xùn)或圖像優(yōu)化上花費(fèi)過(guò)多時(shí)間,。

全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進(jìn)行高分辨率成像,，并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。憑借實(shí)時(shí)元素成像功能,，即 Thermo Scientific ColorSEM 技術(shù),，可以通過(guò)最直觀的界面實(shí)時(shí)獲取元素組分信息,。ColorSEM 技術(shù)消除了與典型 EDS聯(lián)用的所有復(fù)雜操作，為您提供快捷和易用性,。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(shù)（軟件自動(dòng)光學(xué)對(duì)中）,，Apreo 2 SEM 對(duì)用戶和實(shí)驗(yàn)室管理人員的要求非常低。此外,，Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術(shù),，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)電子束對(duì)中、消像散和聚焦等操作,，這項(xiàng)技術(shù)的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的性能,。此外，Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM,。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果,，使用 Apreo 2 SEM,，任何人都能容易地獲得出色的結(jié)果,。

主要特點(diǎn)：

優(yōu)異的空間分辨率及襯度

高分辨率——對(duì)于大多數(shù)樣品都能達(dá)到納米或亞納米級(jí)別的空間分辨率。采用鏡筒內(nèi)同步成像,、信號(hào)過(guò)濾,、復(fù)合透鏡等技術(shù)，幫助提升性能,，達(dá)到最佳的分辨率,。

廣泛的樣品適用性

對(duì)于多種樣品類型都有樣品靈活性，包括絕緣體,、敏感材料,、磁性材料等等。這樣的靈活性幫助用戶獲取感興趣樣品的更多的數(shù)據(jù),。

利用ColorSEM技術(shù)實(shí)時(shí)獲取定量能譜數(shù)據(jù)

只需指尖輕輕點(diǎn)擊就可以獲取元素信息,，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)定量面分布，帶來(lái)體驗(yàn)與易用性,。

快速簡(jiǎn)便的樣品裝載過(guò)程

標(biāo)配的樣品臺(tái)可以一次性容納多個(gè)樣品,，抽真空過(guò)程控制到最短時(shí)間，保證進(jìn)樣過(guò)程不浪費(fèi)時(shí)間,，更加便利地裝載樣品,。同時(shí)配備自動(dòng)插拔的壓差光闌（PLA）可以實(shí)現(xiàn)高真空與低真空模式之間在毋須開(kāi)樣品倉(cāng)的條件下一鍵切換。

高度自動(dòng)化

高度自動(dòng)化技術(shù)包含F(xiàn)LASH技術(shù)（用于自動(dòng)圖像微調(diào)）,、撤銷,、用戶教程、圖像傾斜與拼接,。

大工作距離成像

市場(chǎng)上在大工作距離（10mm）下仍然保持高空間分辨率（1nm)性能和優(yōu)異的圖像質(zhì)量的掃描電鏡,，即使對(duì)于新手用戶,，也極易上手操作。

Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡規(guī)格

	Apreo 2 S	Apreo 2 C
分辨率	30kV下0.7nm(STEM) 15kV下0.5nm(樣品臺(tái)減速） 1kV下0.9nm 1kV下0.8nm(樣品臺(tái)減速） 1kV下1.0nm（工作距離10mm,，樣品臺(tái)減速） 500V下0.8nm(樣品臺(tái)減速） 200V下1.2nm(樣品臺(tái)減速）	30kV下0.7nm(STEM) 15kV下0.9nm(樣品臺(tái)減速） 1kV下1.2nm 1kV下1.0nm(樣品臺(tái)減速） 500V下1.2nm(樣品臺(tái)減速）
標(biāo)配探測(cè)器	ETD,、T1、T2,、T3,、IR-CCD、Nav-Cam+	ETD,、T1,、T2、IR-CCD,、Nav-Cam+
PivotBeam	選區(qū)電子通道襯度模式（也稱為"搖擺光束"模式）,。	不適用
選配探測(cè)器	DBS、LVD,、DBS-GAD,、STEM 3+、RGB-CLD,、EDS,、EBSD、WDS,、拉曼光譜,、EBIC 等
ColorSEM技術(shù)（選配）	基于能譜儀（EDS)實(shí)時(shí)定量數(shù)據(jù)對(duì)掃描電鏡圖像進(jìn)行著色?？商峁┑臄?shù)據(jù)包含點(diǎn)分析,、線掃描、面掃描,、譜圖結(jié)果及可靠的Noran定量結(jié)果
著陸能量范圍	20 eV – 30 keV
樣品臺(tái)偏壓（樣品臺(tái)減速）	-4000V~+600V
低真空模式	選配：樣品倉(cāng)氣壓范圍10-500Pa
樣品臺(tái)	五軸電動(dòng)馬達(dá)臺(tái),，XY軸行程范圍110x110mm2，傾斜范圍-15°~+90°,，最大樣品重量：5kg(不傾斜）
最大束流	50 nA（選配 400 nA）
標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)	一款多功能樣品臺(tái),，可以容納18個(gè)標(biāo)準(zhǔn)釘臺(tái)（φ12mm),有三個(gè)預(yù)傾斜樁，截面樣品臺(tái)和兩個(gè)STEM載位
樣品倉(cāng)	340mm內(nèi)寬,，12個(gè)端口,，最多同時(shí)安裝三個(gè)EDS（兩個(gè)互為180°），EDS,、EBSD共面安裝并與樣品臺(tái)的傾轉(zhuǎn)軸正交

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