目錄:上海賽可檢測(cè)設(shè)備有限公司>>SEM臺(tái)式掃描電鏡>> 賽可SNE-Alpha臺(tái)式掃描電鏡
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更新時(shí)間:2025-03-05 08:27:38瀏覽次數(shù):2466評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 儀器種類 | 鎢燈絲 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,石油,電子,制藥 |
2023年SEC推出全新一代超高分辨率臺(tái)式掃描電鏡SNE-Alpha,大大提高操作便利性,,提高測(cè)試效率,!
賽可SNE-Alpha臺(tái)式掃描電鏡特點(diǎn):
更加人性化的新一代操作軟件,任何人都能輕松操作,,無需專業(yè)測(cè)試人員,。并提供豐富的擴(kuò)展功能:顆粒物自動(dòng)分析,3D粗糙度分析,,超大視野拼圖軟件,。超快的真空抽速,減少等待的煩惱,提高測(cè)試效率,。小巧而精致的設(shè)計(jì),,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用。
5nmResolution250,000xMagnification:
1,、同級(jí)別最高性能的StageNavigation功能:優(yōu)于5um的高精密navigation移動(dòng),,可迅速位移,。
2,、同級(jí)別不二標(biāo)配全自動(dòng)5軸樣品臺(tái):搭載全新的第三代操作軟件
3、任何人均可簡單操作
4,、強(qiáng)大的自動(dòng)功能
5,、超快的真空系統(tǒng)
Vacuum90sec,Venting15sec
同級(jí)別最快的真空系統(tǒng),豐富的擴(kuò)展功能
3D粗糙度分析,,超大視野拼圖軟件
顆粒物粒物自動(dòng)分析(Particleanalysis)
CompactDesign!更強(qiáng)大的性能!
與現(xiàn)有型號(hào)相比,,Dimension減少了40%
300(W)x465(D)x600(H)
強(qiáng)化用戶便利功能
自動(dòng)獲取Navigation圖像
關(guān)閉樣品倉的同時(shí)開始自動(dòng)抽真空
賽可SNE-Alpha臺(tái)式掃描電鏡HIGH-PERFORMANCEHARDWARE:
最高放大倍率25萬倍,5nmResolution,,實(shí)現(xiàn)同級(jí)別最高放大倍率及超高分辨率,,通過全新的高精密電子光學(xué)系統(tǒng),獲取高質(zhì)量圖像,。
五軸全自動(dòng)樣品臺(tái):
優(yōu)于5um的高精密全自動(dòng)樣品臺(tái),,實(shí)現(xiàn)迅速位移并精準(zhǔn)的找到樣品位置。
小巧而精致的設(shè)計(jì),,進(jìn)一步提高空間使用率,。
-與現(xiàn)款相比,Dimension減少40%
-小巧緊湊,,可在狹窄的空間內(nèi)安裝使用
-300(W)x465(D)x600(H)
NEW第三代Nano-eye
全新的操作軟件,,提高用戶體驗(yàn)
注重人性化的操作界面,操作更加便捷,,在短時(shí)間內(nèi)輕松獲取高質(zhì)量圖像
強(qiáng)大的自動(dòng)功能
*的AutoFocus功能,,可快速獲取高質(zhì)量圖像
超大視野拼圖功能:
超大視野給用戶帶來更直觀的觀測(cè)體驗(yàn),通過超大視野拼圖功能,,觀測(cè)樣品全貌,,得到大范圍的高分辨率圖像
所需區(qū)域后無需人員操作,軟件開始自動(dòng)區(qū)域掃描,,并將圖像拼成全景圖像,,方便觀測(cè)并提高效率。
3D粗糙度分析
通過四分割BSE探測(cè)器,,重構(gòu)3D立體圖像,,簡單快速的分析表面粗糙度
EDS(EnergyDispersiveX-raySpectrometer)是一種安裝在SEM(電子顯微鏡)上的分析樣品表面成分的裝置。
利用掃描電鏡的電子束作用在待分析樣品上,接收不同元素在電子束作用后所產(chǎn)生的特征X射線信號(hào)進(jìn)行定性和定量分析,。
Features:
硅漂移探測(cè)器(SDD)
30mm2有效面積
超輕元素窗口,元素探測(cè)范圍B(5)~Cf(98),
能量分辨率MnKα≤129eV
帕爾貼制冷,,無需液氮或其他冷卻劑
簡便的操作軟件,快速實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的微區(qū)化學(xué)成分分析
主要功能:定性·定量分析,MappingLineScan,Report等
規(guī)格:
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)