鎢鋼探針·針尖直徑(μm) | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 | 鎢鋼探針·針長(mm) | 38 |
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鎢鋼鍍金探針·針尖直徑(μm) | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 | 鎢鋼鍍金探針·針長(mm) | 38 |
鎢鋼鍍金軟針·針尖直徑(μm) | 5/10/30/50/125 | 鎢鋼鍍金軟針·針長(mm) | 51 |
鎢鋼角度探針·針尖直徑(μm) | 1/3/5/10/30/50/150/300/500 | 鎢鋼角度探針·針長(mm) | 32 |
鈹銅探針·針尖直徑(μm) | 3/10/30 | 鈹銅探針·針長(mm) | 38 |
可測電流范圍 | 1fA-1A |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
產(chǎn)品介紹
測試探針作為探針臺的核心部件之一,,主要用途是接觸連接待測件電極,,為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個導通條件,從不同應用場景可分為鎢鋼探針,、鎢鋼鍍金探針,、鍍金軟針、鎢鋼角度探針等,,被廣泛應用于半導體及光電等行業(yè)的測試,。
技術(shù)優(yōu)勢
.進口鎢鋼探針,優(yōu)異的導電性能,;
.探測線細而柔韌,,最大限度減少對集成電路的損壞;
.我司特殊的鍍金工藝,保證針體機械屬性的同時,,進一步優(yōu)化其導電性能,;
. 可測電流范圍:1fA-1A;
.多款針尖直徑可選,,滿足不同應用需求;
產(chǎn)品圖片(盒裝)
常規(guī)選型
應用領域
測試探針,,作為探針臺附件之一,適用于R/F測量,,I/O點測量,,直流DC測試,,晶圓測試,電阻電壓測試,,太陽能電池測試,,光電流測試,半導體器件分析測試等,。