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東莞市德祥儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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當(dāng)前位置:東莞市德祥儀器有限公司>>溫濕度環(huán)境試驗(yàn)箱>>PCT/HAST蒸汽老化試驗(yàn)箱>> DX-HAST350HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱

HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱

參  考  價(jià):41800 - 99999 /臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)

    DX-HAST350

  • 品牌

    德祥儀器

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    東莞市

更新時(shí)間:2024-12-14 14:06:08瀏覽次數(shù):287次

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,冶金,電氣,綜合
溫度范圍 +100℃~+132℃ 濕度范圍 70%~100%
濕度控制穩(wěn)定度? ±3%RH 使用壓力? 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動(dòng)均勻度? ±0.1Kg
HAST(High Accelerated Stress Test,, 高加速老化測(cè)試)HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱是一種加速老化測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試電子產(chǎn)品(包括光纖通信器件,、半導(dǎo)體,、電子元件等)在高溫、高濕,、高壓環(huán)境下的長(zhǎng)期可靠性,。與傳統(tǒng)的HAST試驗(yàn)相比,非飽和HAST試驗(yàn)在濕度條件下控制的是非飽和蒸汽的狀態(tài),,而不是全飽和的濕氣,。這種環(huán)境能夠更精準(zhǔn)地模擬實(shí)際應(yīng)用中的不同濕度條件。

HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱

HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱


HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱

HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱

HAST(High Accelerated Stress Test,, 高加速老化測(cè)試)非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱是一種加速老化測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試電子產(chǎn)品(包括光纖通信器件,、半導(dǎo)體,、電子元件等)在高溫,、高濕、高壓環(huán)境下的長(zhǎng)期可靠性,。與傳統(tǒng)的HAST試驗(yàn)相比,,非飽和HAST試驗(yàn)在濕度條件下控制的是非飽和蒸汽的狀態(tài),而不是全飽和的濕氣,。這種環(huán)境能夠更精準(zhǔn)地模擬實(shí)際應(yīng)用中的不同濕度條件,,更適用于一些需要評(píng)估在非飽和濕氣環(huán)境下的電子產(chǎn)品。

HAST 非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱的工作原理

HAST非飽和試驗(yàn)箱通過(guò)以下幾個(gè)環(huán)境條件來(lái)模擬加速老化過(guò)程:

  1. 高溫:箱內(nèi)溫度通常設(shè)置在85°C到150°C之間,,能夠模擬在高溫環(huán)境下電子產(chǎn)品的性能退化和老化,。

  2. 高濕:濕度控制在85% RH到100% RH之間,但由于采用非飽和蒸汽,,這種環(huán)境的水蒸氣不會(huì)全飽和,,而是處于非飽和狀態(tài)。這種狀態(tài)下的濕氣滲透率不同于飽和環(huán)境,,使得設(shè)備能夠模擬實(shí)際工作條件中的部分濕度波動(dòng),。

  3. 加壓:通常試驗(yàn)箱內(nèi)設(shè)置一定的壓力(2~3 bar),通過(guò)加壓加速水蒸氣滲透,,并讓器件在較高的壓力環(huán)境中進(jìn)行老化,。

  4. 非飽和狀態(tài)的蒸汽:非飽和高濕的環(huán)境相較于飽和蒸汽環(huán)境,水蒸氣不會(huì)全飽和,,這樣更能夠模擬實(shí)際使用過(guò)程中濕氣進(jìn)入元件的方式,,特別是在封裝材料和絕緣材料方面。

HAST 非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱的功能與作用

這種試驗(yàn)箱的核心功能是通過(guò)加速環(huán)境應(yīng)力作用,,檢測(cè)電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的可靠性,,尤其是在高溫高濕條件下的表現(xiàn),具體作用包括:

  1. 加速電子產(chǎn)品老化:通過(guò)高溫和高濕條件加速產(chǎn)品內(nèi)部材料的老化過(guò)程,,尤其是影響電子元器件的絕緣性,、封裝材料、導(dǎo)電性等方面的可靠性,。非飽和環(huán)境有助于更真實(shí)地反映實(shí)際工作中濕氣的滲透對(duì)器件的影響,。

  2. 產(chǎn)品可靠性驗(yàn)證:對(duì)光纖通信器件、半導(dǎo)體器件,、PCB板,、電子元件等進(jìn)行可靠性測(cè)試,驗(yàn)證它們?cè)陂L(zhǎng)期暴露于高濕,、高溫環(huán)境中的穩(wěn)定性,,尤其是材料的耐濕性、耐腐蝕性,、耐溫性等,。

  3. 評(píng)估封裝和密封材料:測(cè)試封裝材料,、絕緣層、密封材料等在非飽和濕氣環(huán)境下的表現(xiàn),,評(píng)估它們?cè)跐駳鉂B透,、溫度變化、壓強(qiáng)作用下的老化效果,。這有助于發(fā)現(xiàn)封裝或密封性不良導(dǎo)致的潛在問(wèn)題,。

  4. 模擬真實(shí)應(yīng)用環(huán)境:電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中可能會(huì)經(jīng)歷較大的溫濕變化,非飽和濕氣環(huán)境能夠更好地模擬這些變化,,從而提供更準(zhǔn)確的可靠性評(píng)估,。這對(duì)于高頻產(chǎn)品(如光纖通信器件)尤其重要,能夠確保其在實(shí)際運(yùn)行中的穩(wěn)定性,。

  5. 發(fā)現(xiàn)潛在缺陷:由于高溫高濕的加速作用,測(cè)試能夠更早地暴露產(chǎn)品設(shè)計(jì)或制造中的缺陷,,特別是在材料老化,、應(yīng)力聚集、封裝失效等方面,,幫助提前發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,,避免后續(xù)出現(xiàn)大規(guī)模故障。

HAST非飽和試驗(yàn)箱的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與測(cè)試項(xiàng)目

HAST試驗(yàn)符合多種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(如JIS,、IEC,、MIL-STD等),其測(cè)試項(xiàng)目通常包括:

  1. 光電性能測(cè)試:對(duì)光纖通信器件的光衰減,、插損,、反射損耗等進(jìn)行測(cè)試,確保在高溫高濕環(huán)境下這些光電參數(shù)沒(méi)有顯著惡化,。

  2. 電氣性能測(cè)試:包括測(cè)試電氣絕緣性,、電流/電壓特性、導(dǎo)電性能等,,確保在高溫濕環(huán)境中不會(huì)出現(xiàn)短路,、漏電、絕緣失效等問(wèn)題,。

  3. 機(jī)械性能測(cè)試:包括測(cè)試器件的插拔次數(shù),、連接穩(wěn)定性、材料強(qiáng)度等,,確保高溫濕環(huán)境下器件的機(jī)械特性不受損,。

  4. 封裝可靠性測(cè)試:評(píng)估封裝材料、接點(diǎn)等部位在高濕高壓條件下的抗老化能力,,防止封裝材料因濕氣滲透導(dǎo)致失效,。

  5. 腐蝕性測(cè)試:評(píng)估產(chǎn)品在非飽和濕氣環(huán)境中的腐蝕情況,,特別是金屬部件、電子元件的表面腐蝕情況,。

  6. 綜合可靠性評(píng)估:綜合考慮光電,、電氣、機(jī)械,、材料等多個(gè)因素進(jìn)行全面的產(chǎn)品可靠性評(píng)估,,確保產(chǎn)品在長(zhǎng)期高溫高濕條件下仍然能夠正常運(yùn)行。

HAST非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱的優(yōu)勢(shì)

  1. 真實(shí)模擬使用環(huán)境:非飽和濕氣環(huán)境能夠更精確地模擬真實(shí)的應(yīng)用條件,,特別是對(duì)于封裝和材料的濕氣滲透過(guò)程提供更可靠的測(cè)試數(shù)據(jù),。

  2. 加速測(cè)試過(guò)程:通過(guò)高溫、高濕,、高壓的加速環(huán)境,,能夠顯著縮短測(cè)試周期,快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的潛在問(wèn)題,,減少開發(fā)和生產(chǎn)周期,。

  3. 提高產(chǎn)品質(zhì)量:通過(guò)HAST測(cè)試可以提前發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品在嚴(yán)苛環(huán)境下可能出現(xiàn)的質(zhì)量問(wèn)題,幫助制造商改進(jìn)設(shè)計(jì),,提升產(chǎn)品的整體質(zhì)量和可靠性,。

  4. 更高的可靠性保證:在實(shí)際應(yīng)用中,光纖通信器件,、電子元件等往往暴露在復(fù)雜環(huán)境中,,非飽和HAST試驗(yàn)?zāi)軌蛱峁└邊⒖家饬x的測(cè)試結(jié)果,幫助確保產(chǎn)品的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,。

HAST非飽和試驗(yàn)箱的主要特點(diǎn)

  1. 精準(zhǔn)的溫濕度控制系統(tǒng):精確的溫濕度控制系統(tǒng)可以根據(jù)需要調(diào)節(jié)溫度,、濕度、壓力等環(huán)境參數(shù),,確保測(cè)試條件符合標(biāo)準(zhǔn)要求,。

  2. 可調(diào)壓強(qiáng)功能:非飽和HAST試驗(yàn)箱配備加壓裝置,能夠模擬不同壓力環(huán)境下的影響,,特別是在測(cè)試半導(dǎo)體和光纖器件時(shí),,高壓環(huán)境可以加速濕氣滲透,幫助揭示潛在的封裝缺陷,。

  3. 高穩(wěn)定性的環(huán)境控制:設(shè)備內(nèi)部采用先進(jìn)的控制技術(shù),,能夠保持高穩(wěn)定性的環(huán)境條件,確保測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性,。

  4. 智能化監(jiān)控與數(shù)據(jù)記錄:高中端的試驗(yàn)箱配備智能監(jiān)控系統(tǒng),,可以實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)溫濕度、壓力變化,并自動(dòng)記錄測(cè)試數(shù)據(jù),,生成詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告,,便于后續(xù)分析。

  5. 廣泛的應(yīng)用范圍:適用于光纖通信器件,、半導(dǎo)體,、電子元件、傳感器,、LED,、PCB等各種電子產(chǎn)品的可靠性測(cè)試,特別是在對(duì)高溫高濕條件下性能要求較高的產(chǎn)品,。

總結(jié)

HAST 非飽和高溫高壓高濕試驗(yàn)箱是用于測(cè)試電子產(chǎn)品在非飽和濕氣環(huán)境下的可靠性和耐久性的重要工具,。它通過(guò)模擬高溫、高濕,、高壓條件下的老化過(guò)程,,能夠幫助評(píng)估光纖通信器件、電子元件等在實(shí)際使用中可能遇到的環(huán)境應(yīng)力,,確保產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中具有高穩(wěn)定性和可靠性,。該試驗(yàn)箱不僅提高了測(cè)試效率,還能準(zhǔn)確揭示產(chǎn)品潛在的缺陷和改進(jìn)方向,,從而幫助制造商優(yōu)化設(shè)計(jì),,提升產(chǎn)品質(zhì)量,。


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