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東莞市德祥儀器有限公司
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當前位置:東莞市德祥儀器有限公司>>溫濕度環(huán)境試驗箱>>PCT/HAST蒸汽老化試驗箱>> DX-HAST350高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱

高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱

參  考  價:41800 - 99999 /臺
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號

    DX-HAST350

  • 品牌

    德祥儀器

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    東莞市

更新時間:2024-12-14 11:26:24瀏覽次數(shù):253次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應用領域 能源,電子,冶金,電氣,綜合
溫度范圍 +100℃~+132℃ 濕度范圍 70%~100%
濕度控制穩(wěn)定度? ±3%RH 使用壓力? 1.2~2.89kg(含1atm)
壓力波動均勻度? ±0.1Kg
高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱是一種用于模擬高溫高濕環(huán)境中加速電子元器件,、半導體封裝、焊接點等材料老化的實驗設備,。其主要用途是通過加速老化過程,,評估產(chǎn)品在嚴苛環(huán)境條件下的可靠性與長期穩(wěn)定性,幫助開發(fā)更耐用的電子產(chǎn)品和零部件,。

高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱

高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱


高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱

HAST(高加速蒸汽老化試驗,,High Accelerated Stress Test)蒸汽老化試驗箱 是一種用于模擬高溫高濕環(huán)境中加速電子元器件,、半導體封裝,、焊接點等材料老化的實驗設備。其主要用途是通過加速老化過程,,評估產(chǎn)品在嚴苛環(huán)境條件下的可靠性與長期穩(wěn)定性,,幫助開發(fā)更耐用的電子產(chǎn)品和零部件。

HAST蒸汽老化試驗箱的原理與工作機制:

HAST試驗箱通過加熱水并在封閉環(huán)境中形成高濕,、高溫蒸汽環(huán)境,,以模擬電子產(chǎn)品在高溫潮濕條件下的使用狀況。此類測試能夠加速產(chǎn)品在自然環(huán)境下可能經(jīng)歷的老化過程,,從而快速揭示潛在的設計和制造問題,。

工作原理

  1. 溫濕度環(huán)境控制

    • HAST試驗箱的溫度一般設定在85°C到150°C之間,濕度保持在85%到100%的相對濕度(RH),,有時還可加壓至2~3 bar,,以加速蒸汽滲透,。通過這些控制參數(shù),模擬潮濕和高溫環(huán)境對電子元器件和焊接點的影響,。

  2. 蒸汽生成

    • 水加熱器將水加熱至蒸發(fā)點,,產(chǎn)生高濕蒸汽,通過設備內(nèi)部的空氣循環(huán)系統(tǒng),,將蒸汽均勻分布到試驗箱內(nèi),。

  3. 加壓環(huán)境

    • 為了加速老化過程,某些HAST試驗箱還設計了加壓功能,。試驗室內(nèi)的壓力通??刂圃?~3 bar,壓力的增加能促進水蒸氣更迅速地滲透到測試樣品的內(nèi)部,,從而加速材料,、焊接點的老化過程。

高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱的主要應用:

  1. 焊接點和封裝可靠性測試

    • HAST是測試焊接點,、封裝和電路板穩(wěn)定性的關鍵工具,。測試能快速揭示焊接點由于高溫高濕條件下可能出現(xiàn)的開裂、腐蝕,、氧化等問題,,從而驗證焊接質(zhì)量和封裝材料的長期可靠性。

  2. 電子元器件可靠性評估

    • 電子元器件,,特別是集成電路(IC),、半導體芯片等,可能會在高濕高溫環(huán)境中發(fā)生性能下降或失效,。HAST測試可用來模擬電子產(chǎn)品在潮濕,、熱帶、沿海地區(qū)等高溫高濕環(huán)境中的使用情況,。

  3. 電子產(chǎn)品研發(fā)與質(zhì)量控制

    • 在產(chǎn)品設計階段,,HAST測試有助于評估產(chǎn)品在惡劣環(huán)境條件下的表現(xiàn),確保在實際使用環(huán)境中能夠長期穩(wěn)定工作,。

    • 它是電子產(chǎn)品可靠性測試中的一個標準環(huán)節(jié),,可以幫助開發(fā)團隊驗證元器件和產(chǎn)品的耐用性和穩(wěn)定性。

  4. 標準與認證測試

    • HAST測試也是很多行業(yè)標準和認證(如汽車,、軍事,、航空等)中要求的一項可靠性測試。通過此測試,,產(chǎn)品可以符合一些強制性可靠性認證標準,。

高濕高溫環(huán)境HAST蒸汽老化試驗箱的測試過程:

  1. 樣品準備

    • 準備好待測試的電子元器件或電路板樣品,確保其封裝,、焊接和其他電子元件符合標準要求,。

  2. 設定測試參數(shù)

    • 設置試驗箱的溫度,、濕度和壓力等參數(shù)。例如,,常見的溫度設定為85°C到150°C,,濕度設定為85%到100%的相對濕度,壓力可能設定為2 bar或更高,。

  3. 放置樣品

    • 將待測試的樣品放入HAST試驗箱的內(nèi)部測試艙,,確保樣品位置合適,不會受到外部物體干擾,。

  4. 開始測試

    • 啟動試驗箱進行蒸汽老化測試,。試驗時間可能從幾百小時到幾千小時不等,具體取決于測試要求及產(chǎn)品特性,。

  5. 周期性檢查與評估

    • 在測試期間,,可以定期取出樣品進行檢查,包括觀察焊接點,、封裝是否有裂紋,、腐蝕、氧化等明顯變化,。

    • 通過電氣性能測試,,檢查樣品是否出現(xiàn)開路、短路或電阻變化等故障,。

  6. 結(jié)果分析

    • 測試結(jié)束后,,進行全面評估。通過顯微鏡檢查焊接點和其他關鍵部件的外觀變化,,測試樣品的電氣性能,,分析其是否滿足設計和質(zhì)量要求。

HAST蒸汽老化試驗的優(yōu)勢:

  1. 加速老化

    • HAST測試可以通過模擬高濕高溫條件,,快速評估電子元器件在惡劣環(huán)境下的老化過程,,提前暴露潛在問題。

  2. 高效可靠

    • 與傳統(tǒng)的長期老化測試相比,,HAST測試能大大縮短測試周期,,并為研發(fā)人員提供更多的可靠性數(shù)據(jù),,幫助及時調(diào)整設計和生產(chǎn)工藝,。

  3. 全面性

    • HAST測試不僅能檢測元器件的長期穩(wěn)定性,還能揭示焊接點,、封裝,、連接件等部件的潛在失效模式,是驗證電子產(chǎn)品可靠性的有效方法,。

  4. 提高產(chǎn)品質(zhì)量

    • 通過HAST測試,,企業(yè)能夠更好地控制產(chǎn)品質(zhì)量,,確保最終產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境中能夠穩(wěn)定工作,減少因環(huán)境因素導致的產(chǎn)品失效,。

總結(jié):

HAST蒸汽老化試驗箱是用于加速電子元器件,、焊接點和封裝材料老化的可靠性測試設備。通過模擬高溫高濕環(huán)境,,HAST可以在短時間內(nèi)揭示出產(chǎn)品在惡劣條件下的潛在失效風險,。它廣泛應用于電子產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量控制,、標準認證等領域,,是確保電子產(chǎn)品長期穩(wěn)定性和可靠性的有效工具。


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