（一）,、箱體構造：

2.1.1. 內箱材料：采用1.2mm厚SUS304#不銹鋼經(jīng)過高精度數(shù)控設備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理,，精美大方,。

2.1.2. 外箱材料：采用1.2mm厚冷軋鋼板經(jīng)過高精度數(shù)控設備切割加工后彎折成型，接縫處采用氬弧焊接打磨拋光處理后高溫噴粉烤漆處理表面,，有效防止生銹,，外觀烤漆處理。

2.1.3. 保溫材料：采用耐高溫玻璃纖維棉+聚氨酯硬質發(fā)泡膠制作而成混合保溫層,，保溫效果明顯,。

2.1.4. 斷熱層：高溫區(qū)與低溫區(qū)間采用加厚保溫層斷熱，吊籃移動孔連接板采用環(huán)氧樹脂板斷熱,。

模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專門設計用于測試電子模塊,、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實驗設備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能,、更小體積發(fā)展,，電子模塊和芯片在各種工作條件下的可靠性變得尤為重要，因此需要進行冷熱循環(huán)沖擊試驗,，以確保其在實際應用中能穩(wěn)定工作。

試驗箱的主要功能和特點：

1. 模擬冷熱沖擊環(huán)境：

• 試驗箱通過精確的溫度控制和變化速率,，模擬芯片和電子模塊在實際使用過程中可能遇到的溫差沖擊,。這包括從高溫到低溫的快速轉換（冷熱循環(huán)沖擊）以及溫度的急劇波動。

• 試驗過程可以模擬芯片在電子設備或系統(tǒng)中的實際工作環(huán)境,，如啟動時的低溫環(huán)境或高溫環(huán)境下的運作,。

2. 溫度范圍和變化速率：

• 芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱通常具備較寬的溫度控制范圍，常見范圍為**-40°C至+150°C**,，設備可以達到**-70°C至+180°C**,，能夠滿足各種芯片和模塊的測試需求。

• 溫度變化速率通常在5°C/min至20°C/min之間,，測試過程中溫度的快速變化模擬實際應用中可能出現(xiàn)的環(huán)境變化,。

3. 冷熱循環(huán)功能：

• 該試驗箱可進行冷熱循環(huán)試驗，通過周期性地變化溫度，模擬設備在真實環(huán)境中的反復冷熱交替變化,。冷熱循環(huán)的次數(shù)和周期可以根據(jù)測試需求進行調整,，通常為數(shù)十到幾百個循環(huán)。

• 每個循環(huán)包括高溫階段,、低溫階段以及冷卻/加熱過程,，模擬從一個溫度到另一個溫度的環(huán)境變化。

4. 精確的溫控與均勻性：

• 高精度的溫度控制系統(tǒng)是試驗箱的一大特點,，通常要求溫度波動在±0.5°C以內,，確保試驗條件的穩(wěn)定性和可重復性。

• 試驗箱內部的溫度均勻性非常重要,，確保溫度在整個測試空間內均勻分布,，避免局部溫差影響測試結果。

5. 濕度控制（可選）：

• 部分試驗箱可能配有濕度控制系統(tǒng),，用于模擬潮濕環(huán)境下的測試條件,，特別適用于芯片或模塊在潮濕環(huán)境中的穩(wěn)定性測試。濕度范圍通常為20%RH至98%RH,。

6. 自動化控制與數(shù)據(jù)記錄：

• 芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱通常配有自動化控制系統(tǒng),，可以通過觸摸屏、PC或遠程控制系統(tǒng)進行操作,，設置溫度,、時間、循環(huán)次數(shù)等參數(shù),。

• 設備還支持數(shù)據(jù)記錄和實時監(jiān)控,，能夠自動記錄每個測試周期的溫度、濕度變化,、測試時間等信息,，為后續(xù)分析和報告提供支持。

7. 安全保護設計：

• 為了保證試驗過程的安全性,，試驗箱通常配備有過溫保護,、防止設備損壞的功能。例如,，在設備溫度超過設定范圍或出現(xiàn)故障時,，會自動啟動保護機制，避免對芯片或模塊造成損壞,。

8. 多樣化的測試空間：

• 試驗箱內部空間大小可以根據(jù)不同測試需求進行定制,，適用于各種尺寸的芯片和電子模塊。不同的內部架構設計可以容納多個模塊芯片同時進行測試,，或者單個芯片的精密測試,。

應用領域：

1. 電子元器件與芯片制造：

• 該試驗箱常用于電子元器件,、芯片以及其他電子模塊的可靠性驗證，測試其在溫度變化中的穩(wěn)定性,。芯片和模塊在面對不同的溫差沖擊時,，可能會由于熱膨脹和熱收縮導致焊點松動、線路斷裂或內部結構損壞,，因此需要通過冷熱循環(huán)沖擊試驗來驗證其耐溫性和可靠性,。

2. 汽車電子：

• 車載電子系統(tǒng)中的芯片和模塊（如發(fā)動機控制單元、車載計算機,、傳感器模塊等）需要應對汽車在溫度變化下的工作環(huán)境,。冷熱循環(huán)沖擊試驗幫助確保這些電子設備在高溫、低溫及快速溫度變化下能夠正常工作,。

3. 通訊行業(yè)：

• 在通信設備（如基站,、手機、衛(wèi)星通訊設備等）中,，芯片和電子模塊需要承受長時間的溫差變化,，因此通過冷熱循環(huán)沖擊試驗來驗證其性能和可靠性非常重要。

4. 消費電子：

• 智能手機,、平板電腦,、筆記本電腦等消費類電子產(chǎn)品中的芯片和模塊需要保證在環(huán)境下穩(wěn)定運行。冷熱循環(huán)沖擊試驗可以有效評估其在冷熱交替環(huán)境中的工作能力,，確保產(chǎn)品質量,。

5. 航空航天：

• 在航空航天領域，芯片和電子模塊需要在廣泛的溫度范圍內可靠工作,。冷熱循環(huán)沖擊試驗可以模擬高空飛行過程中設備所遇到的溫差,，確保電子設備能在航天環(huán)境中正常工作。

6. 軍事裝備：

• JUN用電子設備,，如雷達,、導航系統(tǒng)、傳感器等,，常常暴露在的溫度和快速變化的溫差下,。通過冷熱循環(huán)沖擊試驗，可以確保這些設備在苛刻環(huán)境中不失效,。

總結：

模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是用于測試電子模塊和芯片在溫度條件下的可靠性和穩(wěn)定性的專業(yè)設備。它通過模擬芯片和電子模塊在真實工作環(huán)境中的溫度變化（冷熱沖擊）,，幫助評估其在溫差,、熱膨脹、熱收縮等條件下的長期穩(wěn)定性和工作性能,。該設備廣泛應用于電子產(chǎn)品制造,、汽車電子,、通訊、消費電子,、航空航天及軍事等領域,，確保電子元件在各種環(huán)境下的高可靠性和穩(wěn)定性。