產(chǎn)地類別 |
國產(chǎn) |
價(jià)格區(qū)間 |
5萬-10萬 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
能源,電子,航天,汽車,電氣 |
坪山冷熱沖擊試驗(yàn)箱供應(yīng)商在眾多環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中,,高低溫沖擊試驗(yàn)箱,高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱,,快速溫變試驗(yàn)箱,,紫外線老化試驗(yàn)箱都占有重要地位,,其使用范圍遍及各行各業(yè)。它們既能做高溫試驗(yàn)也能做低溫試驗(yàn),,還能從高溫向低溫或是從低溫向高溫轉(zhuǎn)換,,但是其轉(zhuǎn)換時(shí)間太長、速率太慢,,不能滿足樣品需要在溫度驟變情況下的性能測試,。由此便誕生出了高低溫沖擊試驗(yàn)箱,能迅速使試驗(yàn)樣品體驗(yàn)溫變,,以檢測其受溫度沖擊的承受能力及觀察其性
坪山冷熱沖擊試驗(yàn)箱供應(yīng)商:
冷熱沖擊試驗(yàn)箱是航空,、汽車、家電,、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,,考核和確定電工、電子,、汽車電器,、材料等產(chǎn)品,測試在瞬間經(jīng)低溫急速變化而對產(chǎn)品是否造成不良的影響,,以最短時(shí)間內(nèi)實(shí)驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,,以便對測試產(chǎn)品試驗(yàn)行為作出評價(jià),適用于學(xué)校,、工廠,、軍工、研位 等單位,。
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坪山冷熱沖擊試驗(yàn)箱供應(yīng)商
1,、冷熱沖擊試驗(yàn)箱在進(jìn)行低溫試驗(yàn)時(shí),在0度以下的環(huán)境下,,打開箱門時(shí),,箱體內(nèi)部的冷氣會(huì)揮發(fā)結(jié)霜,溫度越低,,情況越嚴(yán)重,,特殊情況下打開箱門時(shí)間也應(yīng)該減少,及時(shí)的關(guān)上箱體門,。
2,、冷熱沖擊試驗(yàn)箱在進(jìn)行試驗(yàn)前要檢測箱體是否關(guān)好關(guān)緊,防止氣體外泄,,影響試驗(yàn)結(jié)果,。
3、在進(jìn)行冷熱沖擊試驗(yàn)時(shí),要注意箱體內(nèi)部或者周圍不能放置易燃易爆炸的還有含腐蝕性的物質(zhì),,有可能會(huì)造成設(shè)備的損壞。
4,、冷熱沖擊試驗(yàn)箱在試驗(yàn)時(shí)不要頻繁打開和關(guān)閉箱門,,否則會(huì)影響設(shè)備的使用壽命。
*設(shè)備滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)
在眾多環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備中,,高低溫沖擊試驗(yàn)箱,,高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱,快速溫變試驗(yàn)箱,,紫外線老化試驗(yàn)箱都占有重要地位,,其使用范圍遍及各行各業(yè)。它們既能做高溫試驗(yàn)也能做低溫試驗(yàn),,還能從高溫向低溫或是從低溫向高溫轉(zhuǎn)換,,但是其轉(zhuǎn)換時(shí)間太長、速率太慢,,不能滿足樣品需要在溫度驟變情況下的性能測試,。由此便誕生出了高低溫沖擊試驗(yàn)箱,能迅速使試驗(yàn)樣品體驗(yàn)溫變,,以檢測其受溫度沖擊的承受能力及觀察其性能改變,。