1. 產(chǎn)品概述

SENTECH SENDIRA 為紅外 （FTIR） 而設(shè)計(jì),。這款緊湊的臺(tái)式儀器包括吹掃橢偏儀光學(xué)元件、計(jì)算機(jī)控制的測(cè)角儀,、水平樣品平臺(tái),、自動(dòng)準(zhǔn)直望遠(yuǎn)鏡、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 檢測(cè)器,。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 （1.7 μm – 25 μm） 的光譜范圍內(nèi)提供出色的精度和高分辨率,。

2. 主要功能與優(yōu)勢(shì)

測(cè)量靈活性

SENTECH SENDIRA 橢圓偏振光譜儀可測(cè)量散裝材料、單層和多層堆疊的薄膜厚度,、折射率,、消光系數(shù)和相關(guān)特性。該工具可用于覆蓋在可見范圍內(nèi)不透明的層下方的層,，使其可用于測(cè)量,。可以分析材料的組成以及較大分子基團(tuán)和鏈的取向,。

橢圓振動(dòng)光譜

利用紅外光譜中分子振動(dòng)模式的吸收帶分析了薄層的組成。此外,，載流子濃度可以用這種FTIR光譜橢偏儀測(cè)量,。

適用的傅里葉變換紅外

對(duì)于 Thermo Fisher Scientific 光譜儀的商用 FTIR iS50，安裝了紅外橢偏儀光學(xué)元件,。它也可用于一般振動(dòng)光譜法,。

精確的測(cè)量和準(zhǔn)確的結(jié)果

SENTECH SENDIRA注于薄層的振動(dòng)光譜分析。應(yīng)用范圍從介電薄膜,、TCO 和半導(dǎo)體到有機(jī)層,。SENDIRA 由 SpectraRay/4 軟件操作,。另外還提供FTIR軟件。