超聲波檢測中聲速和探頭零點校準是因為狀態(tài)行所顯示參數(shù)的計算都是與聲速和探頭零點相關，所以在探傷前請務必校準,；聲程校準是為了使屏幕上顯示適當聲程范圍內的波形,，以便更好地判斷、評價缺陷,。

一,、直探頭校準（單晶探頭）

根據(jù)聲速和探頭零點的已知情況，確定校準步驟,。若聲速未知,，則應先進行聲速校準；若聲速已知,，則跳過聲速校準,，調節(jié)聲速為已知聲速后用一點法進行探頭零點校準,。

1、已知材料聲速校準

步驟：

(1) 材料聲速設置為已知材料聲速,，

(2)  把探頭耦合到校準試塊上,，

(3)  設定閘門邏輯為單閘門方式，即設為進波報警或失波報警邏輯,，把閘門套住一次回波,，此時聲程測量的是一次回波處的聲程，

(4)  調節(jié)探頭零點,，使得狀態(tài)行的聲程測量值（S）與試塊的已知厚度相同,，此時所得到的探頭零點是該探頭的準確探頭零點。

2,、未知材料聲速校準

步驟：

(1)  先初步設定一大概的聲速值,；

(2)  調節(jié)閘門邏輯為雙閘門方式；

(3)  將探頭耦合到一個與被測材料相同且厚度已知的試塊上,；

(4)  移動閘門A的起點到一次回波并與之相交，調節(jié)閘門A的高度低于一次回波幅值至適當位置,，閘門A不能與二次回波相交,；

(5)  移動閘門B的起點到二次回波并與之相交，調節(jié)閘門B的高度低于二次回波幅值至適當位置,，閘門B不能與一次回波相交,；

(6)  調節(jié)聲速，使得狀態(tài)行顯示的聲程測量值（S）與試塊實際厚度相同,，此時,，所得到的聲速是這種探傷條件下的準確聲速值。

(7)  設定閘門邏輯為單閘門方式,，即設為進波報警或失波報警邏輯,，此時聲程測量的是一次回波處的聲程；

(8)  調節(jié)探頭零點,，使得狀態(tài)行的聲程測量值（S）與試塊的已知厚度相同,，此時所得到的探頭零點是該探頭的準確探頭零點。

材料聲速未知,，設置接近的材料聲速為5920m/s,，設置閘門邏輯為雙閘門方式，同時探頭零點設置為0,；將探頭耦合到50mm的標定試塊上,，并將閘A門調到與一次回波相交的位置，將B閘門調到與二次回波相交的位置,；

二,、雙晶探頭校準 增加聲速值，直到一、二次回波間聲程顯示的值為50mm,，現(xiàn)在便測得了材料的準確聲速是6024m/s,；再將閘門設置為單閘門方式，測量一次回波處的聲程,，連續(xù)調節(jié)探頭零點直到一次回波處測得的聲程值為50mm,，現(xiàn)在便測得了探頭零點為0.125us。

校準步驟：

(1) 在收發(fā)組內設置雙探頭狀態(tài),；

(2) 依照當前測試任務和選用探頭設置好聲程,、收發(fā)組各功能項目；

(3) 將探頭耦合到標定試塊上,，調節(jié)基本組中的探頭零點直到標定回波接近要求的位置,，同時二次回波也在顯示范圍之內；

(4) 調節(jié)增益值直到幅值的回波接近全屏高度,；

(5) 在閘門組內打開雙閘門,；

(6) 在設置功能組選擇前沿測量方式；

(7) 移動閘門A的起點到一次回波并與之相交,，閘門A不能與二次回波相交,；

(8) 移動閘門B的起點到二次回波并與之相交，閘門B不能與一次回波相交,；

(9) 調整閘門高度,，使其位于兩個校準回波前沿的相同位置；

(10) 然后改變聲速,，直至顯示出標定試塊的厚度值,；

(11) 設定閘門邏輯為單閘門方式，即設為進波報警或失波報警邏輯,，此時聲程測量的是一次回波處的聲程,；

(12) 調節(jié)探頭零點，使得狀態(tài)行的聲程測量值與試塊的已知厚度相同,。

三,、斜探頭校準

1、校準入射點（探頭前沿）：用IIW試塊（又稱荷蘭試塊）或CSK－IA試塊測斜探頭零點,，將儀器聲速調節(jié)為3230m/s,，顯示范圍為150mm，然后開始測試,，用戶如圖將探頭放在試塊上并移動,，使得R100mm的圓弧面的反射體回波達到，用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離,，此值即為該探頭的前沿值,，R100mm弧圓心對應探頭上的位置即為探頭入射點,。 斜探頭校準通常需要以下步驟：1、校準入射點（探頭前沿）,；2,、校準探頭角度（K值）；3,、校準材料聲速,；4校準探頭零點。

2,、校準探頭角度（K值）：用角度值標定的探頭可用IIW試塊校準,，如果是用K值標定的探頭，可用CSK－IA試塊校準,。這兩種試塊上有角度或K值的標尺,，按探頭標稱值選擇合適的標尺（右圖所示，在IIW試塊上側可校準60－76度的探頭,，下側可校準74－80度的探頭,，CSK-IA試塊上側可校準K2.0、K2.5,、K3.0的探頭,，下側可校準K1.0、K1.5的探頭,。請按試塊上的標定值選擇用合適的校準試塊及校準方法）。如圖放置探頭,，左右移動使得反射體回波達到,，此時入射點對應的刻度是探頭的角度或K值。

3,、校準材料聲速按照1中所述找到R100mm的反射波,，調節(jié)顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波，選擇閘門方式為雙閘門,，調節(jié)A閘門與一次回波相交,，調節(jié)B閘門與二次回波相交，調節(jié)聲速值使得狀態(tài)行中聲程測量值（S）為100,，此時得到的聲速值即為該材料的實際聲速值,。

4、校準探頭零點保持上面的測量狀態(tài),，將閘門方式改為正或負,，調節(jié)探頭零點使得狀態(tài)行中聲程測量值（S）再次為100，此時得到的探頭零點值即為該探頭的零點值,。

斜探頭的校準方法有很多,，并不*拘泥于用標準試塊進行校準,，也可以用已知深度的小孔進行校準，理論上參考反射體越小,，校準的精度越高,，但校準的難度也相應的加大。用小孔校準時可通過測量小孔的深度和水平位置,，計算斜率來校準角度,，并利用測得的深度或水平位置值校準聲速和探頭零點。