XRF—便攜式礦石分析光譜儀產(chǎn)品說(shuō)明：

K-600便攜式礦石分析儀非常堅(jiān)固耐用,，可以在極為惡劣的環(huán)境中完成分析要求很高的應(yīng)用。 每臺(tái)設(shè)備都應(yīng)用了科邁斯新開發(fā)的KMX技術(shù),，這種技術(shù)是XRF信號(hào)處理方面的一項(xiàng)革新,，可提供精確無(wú)誤,、重復(fù)性很高的結(jié)果,，從而使用戶獲得更高的生產(chǎn)力，并快速得到投資回報(bào),。k-600可以用來(lái)對(duì)各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析,。通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，無(wú)輻射性同位素,，現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類型研究,，對(duì)樣品要求低，但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確,，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品,，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試?？七~斯手持式 k-600分析儀可對(duì)各種礦石進(jìn)行多元素分析,，廣泛應(yīng)用于各類礦石的檢測(cè)和分析,，還應(yīng)用于礦渣精煉分析及考古研究。包括金礦,、銀礦,、銅礦、鐵礦,、錫礦,、鋅礦、鎳礦,、鉬礦,、銥礦、砷礦,、鉛礦,、鈦礦、銻礦,、錳礦,、釩礦、碘礦,、硫礦,、鉀礦、磷礦,、鈾礦等從磷到鈾的所有自然礦石,、礦渣、巖石,、泥土,、泥漿。被檢測(cè)的樣品可以是固體,、液體,、粉塵、粉末,、實(shí)心體,、碎片、過(guò)濾物質(zhì),、薄膜層等有形物體,。

K-600手持式礦石分析儀
秉承科邁斯多年的X熒光光譜儀(手持式光譜儀)研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，KMX全新一代手持XRF礦石分析儀——K-600再次帶來(lái)了一場(chǎng)分析領(lǐng)域的革命,。K-600引入數(shù)字多道技術(shù),，使檢出限更低，穩(wěn)定性更高，適用面更廣,，性能媲美臺(tái)式機(jī),；小巧便攜的體積在探礦、找礦以及各類地質(zhì)礦樣多元素檢測(cè)和分析,、礦渣精煉分析中充分發(fā)揮作用,，使探礦工作更為簡(jiǎn)單、輕松,。K-600手持式礦石分析儀可以用來(lái)對(duì)各種不同類型的礦石進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析,。通過(guò)現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的成熟的X射線管分析系統(tǒng)，無(wú)輻射性同位素,，現(xiàn)場(chǎng)分析時(shí)能做出快速而全面的礦石類型研究,，對(duì)樣品要求低，但是測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確,，能準(zhǔn)確分析高濃度樣品,，避免了驗(yàn)證性的實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。

XRF資料建模技術(shù)：

1,、X射線管光源,、多光束過(guò)濾技術(shù)、以及惠普個(gè)人數(shù)位助理技術(shù)(惠普掌上型電腦),，從而使其采測(cè)范圍,、檢測(cè)速度、檢測(cè)精度都非常出色,，并具有很高的升級(jí)潛力,。

2、使用了*的和多用途的x射線資料模式—-采用康普頓常態(tài)化校正方法,，可以利用“內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)”來(lái)進(jìn)行定量分析,，而不需要進(jìn)行專門的校正。

3,、基本參數(shù)分析：采用半定量分析方式,，適合于檢驗(yàn)各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。

4,、實(shí)驗(yàn)校正法：利用“校正曲線”進(jìn)行校正,，允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。

5,、配備了光譜高點(diǎn)識(shí)別軟體，可在顯示幕查看光譜

6,、對(duì)比光譜,，參考內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)完成比較分析。

地礦行業(yè)應(yīng)用優(yōu)勢(shì)
檢測(cè)元素：標(biāo)準(zhǔn)配置可檢測(cè)30多種元素,，同時(shí)可按客戶需求增加檢測(cè)元素
專業(yè)性：礦石專用版分析軟件,，采用智能一鍵測(cè)試
*個(gè)性化定制工作模式
多種礦樣模式選擇和無(wú)限數(shù)目模式的自由添加,，根據(jù)客戶需求定制工作模式。
*充分挖掘礦山價(jià)值

高清攝像頭,，可對(duì)被檢測(cè)的礦脈或礦點(diǎn)部位進(jìn)行更直觀的觀察,，并對(duì)開采過(guò)程進(jìn)行精確管理和控制，隨時(shí)檢測(cè)礦石品位,。
*對(duì)選礦過(guò)程中原礦,、精礦和尾礦等進(jìn)行精確快速分析，為礦石品位的測(cè)定,、礦物貿(mào)易,、加工以及再利用提供價(jià)值判定依據(jù)。
*環(huán)境監(jiān)控
對(duì)開采礦山周圍土壤中的重金屬進(jìn)行監(jiān)測(cè)和檢測(cè),，評(píng)估礦山環(huán)境的修復(fù)情況,，最 大限度的監(jiān)測(cè)好礦山周邊的環(huán)境。

主要用途：

手持式礦石分析儀,，用于礦業(yè),、地質(zhì)、土壤環(huán)境,、底泥,、沉積物中的有色金屬元素的快速分析測(cè)定。

1.主要配置要求:

1.1 礦石分析儀主機(jī)1套,；

1.2 標(biāo)準(zhǔn)樣品1個(gè),；

1.3 原裝可充電鋰電池2塊；

1.4 充電座及電源線,；

1.5 U盤(32G)1個(gè),；

1.6 加強(qiáng)型聚丙烯膜5片；

1.7 標(biāo)準(zhǔn)手提防潮防震箱一只,。

技術(shù)參數(shù)及要求

1,、檢測(cè)元素：可用于礦石、土壤環(huán)境中金屬元素,，Mg,、Al、Si,、P,、S、Ti,、V,、Cr、Mn、Fe,、Co,、Ni、Cu,、Zn,、Hf、Ta,、W,、Hg、Se,、Au,、Br、Pb,、Bi,、Zr、Nb,、Mo、Ag,、Cd,、Sn、Sb,、Re,、Ir、Pt,、Hg,、Ru、Rh,、Pd等元素,。（紅色為SDD探測(cè)器配置）

2、探測(cè)器：美國(guó)Moxtek Si-pin（6 mm2）,、美國(guó)Amptek Si-pin（25 mm2）,、德國(guó)KETEK SDD探測(cè)器 

3、激發(fā)源：大功率微型直板X射線管,，W靶材,，4W大功率X射線管，管電壓50KV,，管電流最 大可達(dá)100μA,；

4,、采用KMX技術(shù),，更高X射線計(jì)數(shù)率,，超低電子噪聲設(shè)計(jì)。每次測(cè)試前,，不需要外部標(biāo)樣,，自動(dòng)能量校準(zhǔn)核查；

5,、濾光片：配置8個(gè)濾光片，可根據(jù)測(cè)試元素自動(dòng)切換,；

6,、測(cè)試方法：基本參數(shù)法，支持經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法修正

7,、點(diǎn)觸或扣動(dòng)扳 機(jī)控制測(cè)試開始,，測(cè)試過(guò)程無(wú)需長(zhǎng)扣扳 機(jī)。根據(jù)客戶需求,，也可以一直按著扳 機(jī)測(cè)試樣品,。

8,、操作系統(tǒng)：Window CE 6.0操作系統(tǒng),，安全、放心

9,、自診斷功能：儀器可自動(dòng)對(duì)硬件、軟件,、網(wǎng)絡(luò)、電池等進(jìn)行診斷,，并會(huì)生成日志,，便于快速排查出故障

10、標(biāo)配模式：礦石模式,；選配模式：合金分析模式,、土壤分析模式