首頁>>北京?？扑间J光電儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>激光測試設(shè)備>>激光光強分布和光束質(zhì)量分析儀
線光源測試設(shè)備 參考價：面議
線光源測試設(shè)備線激光測試系統(tǒng)(LLPS)是一個用于分析長度高達200mm和寬度為55μm的線激光器解決方案,。通過使用50/200mm線性位移臺,，搭載DataRa...
大尺寸光斑分析儀-200mm 參考價：面議
大尺寸光斑分析儀-200mm大尺寸光斑分析儀,，檢測200mm成像區(qū)域,，成套系統(tǒng)包含：WinCamD-LCM CMOS光斑分析儀,，成像透鏡,，透射式屏幕組件。
dataray 參考價：面議
dataray提供靈活的M2測試配套儀器，可按照客戶的激光參數(shù)選擇50mm或則200mm行程的掃描移位臺,，可搭載他們?nèi)盗械墓獍叻治霎a(chǎn)品/Beam R2組合而成...
BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀 參考價：面議
BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀DataRay的BeamMap2代表了一種*不同的實時光束輪廓分析方法,。它允許在光束行進的多個位置進行測...
Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀 參考價：面議
Beam’R2 XY 掃描狹縫光斑分析儀DataRay的Beam'R2非常適合許多激光光束輪廓分析應(yīng)用。利用標準的2.5μm狹縫和較大的刀口狹縫,，Beam'R2...
TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析儀 25mm 參考價：面議
TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析儀 25mmTaperCamD-LCM具有25 x 25 mm的大有效面積,，4.2 M像素，12.5 x 12....
BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析儀 參考價：面議
BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析儀高分辨率和高度緊湊的BladeCam™光束輪廓儀的像素尺寸為3.2μm,，厚度僅為0....
WinCamD-THz 1英寸CMOS THz 光斑分析儀 參考價：面議
WinCamD-THz 1英寸CMOS THz 光斑分析儀WinCamD™-THz具有較大的有效面積,，高空間分辨率，全局快門和快速幀頻等特點,，非常適...
寬帶2-16 µm MWIR FIR光束分析儀 參考價：面議
寬帶2-16 µm MWIR FIR光束分析儀WinCamD-IR-BB是針對MWIR和FIR范圍內(nèi)的激光器的成像解決方案,。基于微測輻射熱計的相機具有...
WinCamD-UHR/XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀 參考價：面議
WinCamD-UHR/XHR 0.5英寸 CMOS光束分析儀WinCamD UHR / XHR非常適合任何激光束輪廓分析應(yīng)用,。像素尺寸低至3.2μm,，適合于光...
WinCamD-QD-1550的高分辨率光束輪廓 參考價：面議
WinCamD-QD-1550的高分辨率光束輪廓WinCamD-QD-1550是用于可見光和SWIR范圍內(nèi)激光的成像解決方案。WinCamD-QD-1550具有...
激光光束質(zhì)量分析儀 參考價：面議
激光光束質(zhì)量分析儀WinCamD-LCM 1英寸 CMOS光束分析儀WinCamD-LCM系列具有11.3 x 11.3 mm的有效區(qū)域,，4.2 M像素,，5.5...
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