一、手持式礦石樣品分析儀測量范圍：
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,Ag,Cd,
Sn,Sb,Te,Cs,Ba,Hf,Ta,W,Re,Pt,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等,。
測量礦種:各種金屬,、非金屬、貴重金屬和稀有金屬礦例如：鐵礦,、銅礦,、鋅礦、鈦礦,、釩礦,、鉻礦、錳礦,、鈷礦,、鎳礦、鉛礦,、鉬礦,、鎂礦、鋁礦,、銀礦,、金礦、鉑礦,、硫礦,、砷礦、硒礦等
二,、手持式礦石樣品分析儀主要應(yīng)用
布魯克手持光譜儀主要分析礦體,、礦塊、礦粉,、礦渣,、精礦、粗礦,、尾礦,；還可分析沉淀物、填料,、土壤,、泥土、泥漿,；粉塵,、灰塵、過濾物、薄膜層等,。
三,、手持式礦石樣品分析儀主要特性：
簡體中文界面
Windows 5.0操作系統(tǒng)
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術(shù)的XFlash®SDD檢測器
分析元素zui小從Mg開始，達40多種,。
分析范圍：ppm級至50%以上（與礦樣種類有關(guān)）
實時分析數(shù)據(jù)和圖譜顯示
XRF軟件具有定性,、定量分析功能，控制光管的電壓和電流,，使測量范圍更廣
測量*無損,，不受樣品形狀限制
儀器自動校準，自動存儲測量數(shù)據(jù),，無需人工干預
主機一體化設(shè)計,，高強度密封，防水,、防塵,，抗沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內(nèi)置Bruker專業(yè)操作軟件，計算和顯示速度快
儀器適應(yīng)高溫,，低溫,，潮濕，雨天,、沙塵等惡劣環(huán)境
在開機狀態(tài)下長時間不測量時,，儀器會自動進入待機狀態(tài)，以節(jié)省電源和保護儀器
X射線管耐用性強,，采用Peltier半導體恒溫制冷技術(shù)更增加了使用壽命
選配GPS定位系統(tǒng),，可精確定位礦體位置并繪制礦脈分布圖
萬能FP模式，適于各種礦石樣品,，大大縮短現(xiàn)場工作時間,。自動補償元素間干擾。
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