KELLER 高溫計(jì)PZ 40 AF 403KELLER 高溫計(jì)PS21AF2 NO:513874, 0-1400℃KELLER 輻射高溫計(jì)PZ 50 AF 1/DKELLER 高溫計(jì)PA83AF1KELLER 差壓傳感器PD23,150KPAKELLER 傳感器TA-21SKELLER每年生產(chǎn)130多萬個高技術(shù)要求的測量元件。自始至終,，我們的價(jià)值鏈都建立在Winterthur的總部，我們在那里做從生產(chǎn)單個零件到校準(zhǔn)傳感器以及對成品進(jìn)行最終檢查的一切工作,。這意味著所有KELLER產(chǎn)品都是“瑞士制造",，客戶可以確信他們獲得了可靠的瑞士品質(zhì)。
技術(shù)
隔離式測壓元件的應(yīng)用廣泛性
電子壓力測量是指使用 傳感器測量的壓力并將其轉(zhuǎn)換為電信號進(jìn)行記錄的過程,。由于大的輸出信號和完備的制造工藝，以及多年積累的經(jīng)驗(yàn),， 壓阻技術(shù)已在壓力測量領(lǐng)域成為一種通用的技術(shù),。
電阻式壓力測量以電阻變化作為測量依據(jù)，電阻值隨待測壓力的變化而變化,。測量電阻元件集成在壓敏器件中,，根據(jù)壓力變化，它們要么拉伸（電阻增大）,，要么壓縮（電阻減?。毫υ酱?，膜片變形越大,，這意味著電阻變化的程度直接取決于壓力。此外,，在壓阻電阻器中,，拉伸或壓縮時(shí)產(chǎn)生的機(jī)械張力也會導(dǎo)致導(dǎo)電性的變化。這種壓阻效應(yīng)基于原子位置的位移,，直接影響電荷傳輸,。導(dǎo)電性變化引起的電阻變化可能比純變形引起的電阻變化要大得多。
壓阻式傳感器硅片的基礎(chǔ)是厚度小于1毫米的晶體硅圓盤,，稱為晶圓,。在晶圓表面的某些特定點(diǎn)會注入一些其他原子。硅中的這些摻雜區(qū)域形成壓阻電阻器,。在隨后的步驟中,，然后以直接在硅中形成膜片的方式在局部基礎(chǔ)上對晶圓進(jìn)行減薄。如果膜片變形，則電阻值會根據(jù)布放位置的不同增加或減少,。之后,，硅的背面牢固地鍵合到玻璃上。對于絕對壓力傳感器,，玻璃與硅片之間會形成一個密封的真空區(qū)域作為參考側(cè),。測量相對壓力時(shí)，玻璃后方會開一個參考壓力孔,。
為了將傳感器芯片與待測介質(zhì)隔離,，傳感器芯片安裝在一個壓力密封的金屬外殼中，該外殼充滿油,，前端用薄膜片密封,。然后，壓力通過該膜片和作為傳輸介質(zhì)的硅油作用于傳感器芯片,。
KELLER 壓力傳感器PA23-S400 0-400BAR 4-20MAKELLER 差壓傳感器PD39X,0-15BARKELLER 真空傳感器PAA-33XEI/81871.15KELLER 防護(hù)門墊97061 60515KELLER 高溫計(jì)配件PZ 20/AKELLER 電磁閥9703014525KELLER 測溫儀PA-23 3MPaKELLER 高溫計(jì)PZ30/AF10 2000攝氏度KELLER 法蘭PS 01/N 230KELLER 表PR-25S-10-ILKELLER 溫度攝像儀PQ11AF 0-1000°CKELLER 壓力變送器 PA-21Y / 50bar / 81555.1
