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射線光電子能譜儀 (XPS) 系統(tǒng)在提供全自動,、高通量的多技術(shù)分析的同時，保持研究級的高質(zhì)量分析檢測結(jié)果,。
ThermoScientific™Nexsa™X射線光電子能譜儀(XPS)系統(tǒng)在提供全自動,、高通量的多技術(shù)分析的同時，保持研究級的高質(zhì)量分析檢測結(jié)果,。集成ISS,、UPS、REELS,、拉曼等多種分析技術(shù)于一身,，用戶因此能夠進行真正意義上的聯(lián)合多技術(shù)分析，從而為微電子,、超薄薄膜,、納米技術(shù)開發(fā)以及許多其他應用進一步取得進展釋放潛能。
射線光電子能譜儀描述：
材料分析和開發(fā)
Nexsa能譜儀具有分析靈活性,，可最大限度地發(fā)揮材料潛能,。在使結(jié)果保持研究級質(zhì)量水平的同時，以可選多技術(shù)聯(lián)合的形式提供靈活性,，從而實現(xiàn)真正意義上多技術(shù)聯(lián)合的分析檢測和高通量,。
標準化功能催生強大性能：
·絕緣體分析
·高性能XPS性能
·深度剖析
·多技術(shù)聯(lián)合
·雙模式離子源，使深度剖析功能得到擴展
·用于ARXPS測量的傾斜模塊
·用于儀器控制、數(shù)據(jù)處理和報告生產(chǎn)的Avantage軟件
·小束斑分析
可選的升級：可將多種分析技術(shù)集成到您的檢測分析中,。式自動運行
·ISS：離子散射譜,，分析材料最表面1-2原子層元素信息，通過質(zhì)量分辨可分析一些同位素豐度信息,。
·UPS：紫外光電子能譜用于分析金屬/半導體材料的價帶能級結(jié)構(gòu)信息以及材料表面功函數(shù)信息
·拉曼：拉曼光譜技術(shù)用于提供分子結(jié)構(gòu)層面的指紋信息
·REELS：反射電子能量損失譜可用于H元素含量的檢測以及材料能級結(jié)構(gòu)和帶隙信息
SnapMap
借助SnapMap的光學視圖,，聚焦于樣品特征。光學視圖可以幫助您快速定位感興趣區(qū)域,，同時生成*聚焦的XPS圖像,，以進一步設(shè)置您的實驗。
1.X射線照射樣品上的一個小區(qū)域,。
2.收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其收集于分析儀
3.隨著樣品臺的移動,，不斷收集元素圖譜
4.在整個數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測樣品臺位置，這些位置的圖譜成像用來生成SnapMap
應用領(lǐng)域
·電池
·生物醫(yī)藥
·催化劑
·陶瓷
·玻璃涂層
·石墨烯
·金屬和氧化物
·納米材料
·OLED
·聚合物
·半導體
·太陽能電池
·薄膜
化工儀器網(wǎng)