| 應用領域 |
醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農產品 |
FE-SEM獲得的圖像分辨率高,，信息豐富，樣品處理相對簡單,，并且它可以觀察,、測量并分析樣品的細微結構，因此被廣泛應用于納米技術,、半導體,、電子器件、生命科學,、材料等領域,。近年來，以Materials Integration為代表,，其應用領域及用途在不斷擴展,，短時間內獲取大量數據，減輕作業(yè)負荷成為市場的一大需求,。為滿足這一需求此次特推出的SU8700作為一款面向新時代的SEM在日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡
日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡介紹：
SU8700可配置各種分析附件,，適用于從低加速觀察到高束流的EBSD分析，支持陶瓷,、金屬等不同材料的解析,。日立肖特基場發(fā)射掃描電鏡該系列產品的特點如下：
1．支持自動獲取數據
在FE-SEM的觀察和分析中，需要根據測量樣品與需求調整觀察條件,。調整所需時間的長短取決于用戶的操作熟練度,，這是造成數據質量與效率差異的因素之一。此系列產品標配自動調整功能,，可避免人為操作導致的差異,。
此外，隨著儀器性能的提升,，需要獲取的數據種類與數量也在增加,，手動獲取各種大量數據會大大增加用戶的作業(yè)負擔。此系列產品可選配“EMFlowCreator",，用戶可根據自身需求設定條件,，自動獲取數據,，這對于未來通過獲取大量數據實現(xiàn)數據驅動開發(fā)起到重要作用。
2．增加獲取信息的種類與數量
通過SEM能夠收集到多種信號,，且此系列產品最多可以同時顯示和存儲6個檢測器的信號,。在減少圖像獲取次數的同時能夠獲取多種信息。
此外,，為一次性獲取大量信息,，單次掃描像素擴展到了40,960x30,720（選配），是之前型號的64倍,。利用這一功能,，可憑借一張數據圖像有效評估多處局部的細微結構。
3．增強信號檢測能力
SU8700的樣品倉設計巧妙,，可使用短工作距離進行EDS分析,，通過提高EDS分析的空間分辨率，能夠實現(xiàn)更微小部位的分析,。
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