引伸計標定儀高精度位移測微儀試驗

GWB-2000型 引伸計標定儀，是一種純機械式的高精度位移測微儀器,。依據(jù)JJG762-2007引伸計檢定規(guī)程及JJF1096-2002引伸計標定器校準規(guī)范的要求,，專門用于對各類引伸計的標定，也廣泛用于位移傳感器的檢定及相應百分表,、千分表的檢定,。

一、結構特點及讀數(shù)方式

1,、 本儀器由精密微分測頭及測量支架組成,。該標定儀是積木式結構設計。將精密微分測頭及支臂以多種方式或位置組合,，同時配有加長立柱附件,，配有圓柱、板,、刀片等多種形式的分離試樣,，可以方便地進行多種規(guī)格型號引伸計的計量標定,。用戶還可以根據(jù)自己的測試特殊需要，配置專用配件進行精密微變形量計量,。

2,、精密微分測頭由滑動量桿、量桿套筒,、讀數(shù)內筒,、讀數(shù)外筒及高精密螺紋付組成。其最大量程25㎜,；最小分度（游標分度）0.0002㎜,；旋轉外筒分度0.002㎜。

位移變化讀數(shù)為：

L=（a+0.001b+0.0001c）-(a₀+0.001b₀+0.001c₀)

其中：a－內筒毫米刻線讀數(shù)

b－外筒刻線讀數(shù)

c－游標刻線讀數(shù)

a₀ b₀ c₀為相應位移變化前讀數(shù)

二,、各項技術精度指標

1,、測量引伸計

2,、測量支座上支臂安裝孔徑        φ10,；φ28

3、微分測頭讀數(shù)內筒軸向刻度       0.5㎜/格

4,、微分測頭讀數(shù)內筒游標刻度    0.0002㎜/格

5,、微分測頭讀數(shù)外筒園周刻度     0.002㎜/格

6、高精密微分測頭精度指標

標定儀示值誤差：

量程0.5㎜以內≤0.5μm    絕對誤差

量程0.5㎜以上≤0.10%     逐點相對誤差

參照標準：

JJF1096-2002 引伸計標定器校準規(guī)范

ISO9513:1999 金屬材料單軸試驗用引伸計標定

JJG762-2007  引伸計檢定規(guī)程

可進行0.5級引伸計的標定

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