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產(chǎn)品型號

SGC-10薄膜測厚儀

主要特點(diǎn)

1,、非接觸式測量，用光纖探頭來接收反射光,，不會破壞和污染薄膜,；

2、測量速度快,，測量時(shí)間為秒的量級,；

3、可用來測薄膜厚度,，也可用來測量薄膜的折射率n和消光吸收k,；

4,、可測單層薄膜，還可測多層膜系,；

5,、可廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì)，半導(dǎo)體,，液晶等透明半透明薄膜材料,；

6、軟件的材料庫中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù),，可供用戶參考,；

7、內(nèi)嵌微型光纖光譜儀,，結(jié)構(gòu)緊湊, 光纖光譜儀也可單獨(dú)使用,。

8、強(qiáng)大的軟件功能：界面友好,，操作簡便,，用戶點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測量。便捷快速的保存,、讀取測量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大,，可同時(shí)測量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù)。一次測量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù),。材料庫中包含了大量常規(guī)的材料的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù),。用戶可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫。

9,、儀器具有開放性設(shè)計(jì),，儀器的光纖探頭可很方便地取出，通過儀器附帶的光纖適配器（如圖所示）連接到帶C-mount適用于微區(qū)（>10μm,，與顯微鏡放大率有關(guān)）薄膜厚度的顯微鏡（顯微鏡需另配）,，就可以使本測量儀測量。

技術(shù)參數(shù)

1,、厚度范圍： 20nm-50um（只測膜厚）,，100nm-25um（同時(shí)測量膜厚和光學(xué)常數(shù)n，k）,，根據(jù)薄膜材料的種類,，其范圍有所不同。

2,、準(zhǔn)確度：     <1nm或<0.5%

3,、重復(fù)性：     0.1nm

4、波長范圍： 380nm-1000nm

5,、可測層數(shù)： 1-4層

6,、樣品尺寸： 樣品鍍膜區(qū)直徑>1.2mm

7,、測量速度： 5s-60s

8、光斑直徑： 1.2mm-10mm可調(diào)

9,、樣品臺： 290mm*160mm

10,、光源： 長壽命溴鎢燈（2000h）

11、光纖： 純石英寬光譜光纖

12,、探測器： 進(jìn)口光纖光譜儀

13,、電源：AC110V-240V，50HZ-60HZ

產(chǎn)品規(guī)格

尺寸：300mm*300mm*350mm,，重量：18kg