MX63和MX63L顯微鏡用于材料學(xué)的配置：

1,、BX53M反射和反射/透射觀察BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架,，一種僅用于反射光,，一種用于反射光和透射光組合。兩種機(jī)架都可配置手動,、編碼或電動部件,，并且都配備有ESD防靜電功能。

2,、BX53M IR觀察BX3M系列有兩種顯微鏡機(jī)架,，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合,。兩種機(jī)架都可配置手動,、編碼或電動部件，并且都配備有ESD防靜電功能,。IR物鏡可用于透過硅材料成像,，進(jìn)行半導(dǎo)體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡,，提供了從可見光波長到近紅外的像差校正,。對于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡,，校正由樣品厚度導(dǎo)致的像差,。使用一個物鏡即可獲取清晰的圖像

3、BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像,，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選,。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究,，都得益于穩(wěn)定的顯微鏡系統(tǒng)性和精密的光學(xué)系統(tǒng),。

MX63和MX63L顯微鏡系統(tǒng)支持檢測尺寸達(dá)300毫米的晶圓、平板顯示器,、印刷電路板以及其他樣品的質(zhì)量,。這些符合人體工學(xué)設(shè)計(jì)的人性化系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì),，可在各種應(yīng)用中實(shí)現(xiàn)理想的觀察條件。結(jié)合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用時(shí),，從觀察到生成報(bào)告的整個檢測流程更簡潔直觀,。

滿足電子行業(yè)需求：

應(yīng)用反射光顯微鏡在很多應(yīng)用和行業(yè)中普遍應(yīng)用。以下是采用不同的觀察方法所達(dá)到的一些效果示例,。

暗場/MIX,、熒光/MIX、投射/MIX,、微分干涉,、偏光紅外（IR)