
*軟件界面僅供參考
純中文的操作界面
功能設計簡單易操作,。符合國人使用習慣,,即使是新手用戶,簡單了解后也能快速上手,。
完善的自動化功能
自動亮度對比度,、自動聚焦、自動像散,,均可一鍵調節(jié),,提高工作效率。
豐富的測量工具
長度,、面積,、圓度、角度等測量功能強大的照片管理和預覽,、編輯功能。
光學導航
想看哪里點哪里,,導航更輕松
標配光學導航攝像頭,,可拍攝高清樣品臺照片,,快速定位樣品。

防撞設計
對新手更友好的防碰撞設計,,最大限度保護敏感單元,。

一鍵成像
*軟件一鍵成像,新手也能輕松駕馭,。

分析距離
最佳分析距離和成像距離二合一,,輕松體驗優(yōu)質性能。


SEM2000軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像,??赏瑫r觀察到樣品的形貌信息和成分信息。


SE:3.9 nm @20 kV


BSE:4.5 nm @ 20 kV
高靈敏度背散射探測器
· 多通道成像
探測器設計精巧,,靈敏度高,,采用4分割設計,無需傾斜樣品,,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像,。

四個單通道的陰影像
成分像
· 二次電子成像和背散射電子成像對比
背散射電子成像模式下,荷電效應明顯減弱,,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息,。

鐵礦石-(SE)
鐵礦石-(BSE)
能譜
金屬夾雜物能譜面掃分析結果。

電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大,,滿足高分辨EBSD的測試需求,,能夠對金屬、陶瓷,、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析,。 該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,,判斷晶界和孿晶,,對材料組織結構進行精確判斷。
